Разделы презентаций


Маршруты создания ИС. Технология изготовления КМОП схем с p-карманом

ИС на транзисторах со структурой металл-диэлектрик-полупроводник (МДП) получили широкое распространение. В качестве диэлектрика в настоящее время используют диоксид кремния SiO2 (МОП-структуры).

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1Лекция
Маршруты создания ИС.
Технология изготовления КМОП схем с p-карманом

ЛекцияМаршруты создания ИС.Технология изготовления КМОП схем с p-карманом

Слайд 2 ИС на транзисторах со структурой металл-диэлектрик-полупроводник

(МДП) получили широкое распространение.
В качестве

диэлектрика в настоящее время используют диоксид кремния SiO2
(МОП-структуры).
Имеются работы о возможности использования в качестве тонкого диэлектрика пленку оксинитрида SiNO.
ИС на транзисторах со структурой металл-диэлектрик-полупроводник (МДП) получили широкое распространение.

Слайд 3Преимущества МОП ИС над биполярными ИС
малые размеры и площадь
упрощенная изоляция
низкая

потребляемая и рассеиваемая мощность
устойчивость к перегрузкам
высокое входное сопротивление
помехоустойчивость
низкая себестоимость производства

Преимущества МОП ИС над биполярными ИСмалые размеры и площадьупрощенная изоляциянизкая потребляемая и рассеиваемая мощностьустойчивость к перегрузкамвысокое входное

Слайд 4 Первый транзистор, работающий на эффекте поля, был

продемонстрирован в 1960 году. Сначала полевые транзисторы с двуокисью кремния

в качестве подзатворного диэлектрика формировались на подложке n- типа проводимости. Затем из-за большей подвижности электронов, чем у дырок при формировании сверхбольших быстродействующих интегральных схем стали использовать n- канальные транзисторы, формируемые на p- подложке.
Первый транзистор, работающий на эффекте поля, был продемонстрирован в 1960 году. Сначала полевые транзисторы

Слайд 5Структуры и условные обозначения МОП транзисторов: со встроенными - а)n-каналом;

б)p-каналом; с индуцированными - в) n-каналом; г) p-каналом .

Структуры и условные обозначения МОП транзисторов: со встроенными - а)n-каналом; б)p-каналом; с индуцированными - в) n-каналом; г)

Слайд 6 Основу современных цифровых схем составляет схема, на

транзисторах с каналами n- и p- типов проводимости – комплементарная

структура (КМДП инвертор).
По сравнению с n-МОП ИС КМОП ИС потребляют меньшую мощность, имеют большую помехоустойчивость и высокую нагрузочную способность по выходу.
Основу современных цифровых схем составляет схема, на транзисторах с каналами n- и p- типов

Слайд 7 Выбор подложки
В качестве подложки

выбирают кремний p- типа проводимости легированный бором КДБ (100) с

концентрацией примеси 1015 - 1016 см-3.
Ориентация кремниевой подложки (100) имеет преимущество по сравнению с (111), заключающееся с более высокой подвижности электронов, обусловленной низкой плотностью поверхностных состояний на границе кремний-диэлектрик.
Выбор подложки     В качестве подложки выбирают кремний p- типа проводимости легированный бором

Слайд 8 Один из транзисторов КМОП пары размещается в так называемом

кармане.
Возможны следующие варианты изготовления КМОП ИС:
с p-карманом;
с n-карманом;
с двумя

карманами.
Один из транзисторов КМОП пары размещается в так называемом кармане. Возможны следующие варианты изготовления КМОП ИС:с

Слайд 9Маршрут изготовления КМОП ИС с p-карманом (Самосовмещенная технология)
Формирование маски

для легирования кармана (Окисление 0,1 мкм -ФЛ №1 Окисление 0,05

мкм).
И.л. бором B.



Маршрут изготовления КМОП ИС с p-карманом  (Самосовмещенная технология) Формирование маски для легирования кармана (Окисление 0,1 мкм

Слайд 103. Разгонка кармана: Окисление + Отжиг, ЖХТ SiO2 до Si.
4.

Окисление 500 Å + Осаждение Si3N4


3. Разгонка кармана: Окисление + Отжиг, ЖХТ SiO2 до Si.4. Окисление 500 Å + Осаждение Si3N4

Слайд 115. Создание области р+ – охраны:
ФЛ №2 + ПХТ Si3N4

+ЖХТ SiO2 +и.л. бором (р+ - охрана).
6. Создание области n+

– охраны:
ФЛ №3 + ПХТ Si3N4 +ЖХТ SiO2 +и.л. фосфором (р+ - охрана).
7. «ЛОКОС»: Окисление в парах воды при температуре 850 °С до толщины 0,6 мкм.


5. Создание области р+ – охраны:ФЛ №2 + ПХТ Si3N4 +ЖХТ SiO2 +и.л. бором (р+ - охрана).6.

Слайд 12


8. ЖХТ Si3N4 + ЖХТ SiO2

8. ЖХТ Si3N4 + ЖХТ SiO2

Слайд 139. Предварительное окисление.
10. ЖХТ SiO2 - предварительного окисла.
11. Окисление под

затвор
(d=350-450 Å).

9. Предварительное окисление.10. ЖХТ SiO2 - предварительного окисла.11. Окисление под затвор (d=350-450 Å).

Слайд 1412. Осаждение поликремния Si٭ + Диффузия фосфора (легирование затворов) +

ЖХТ ФСС.


12. Осаждение поликремния Si٭ + Диффузия фосфора (легирование затворов) + ЖХТ ФСС.

Слайд 1513. Формирование затворов: ФЛ №4+ПХТ Si*+ Окисление («спейсеры»).
14. Формирование

областей (n+-стоки, исток) и (p+- стоки, исток):
ФЛ №5

+ И.л. фосфором (n+-стоки, исток) + ФЛ №6 + И.л. бором (p+- стоки, исток) + Осаждение SiO2 .


13. Формирование затворов: ФЛ №4+ПХТ Si*+ Окисление («спейсеры»). 14. Формирование областей (n+-стоки, исток) и (p+- стоки, исток):

Слайд 1615. Формирование первого уровня металлизации:
ФЛ №7 (контактные окна) + ПХТ

SiO2 в окнах + напыление Al+Si или силицидов (например, TiSi,

PtSi)+ ФЛ №8 (металл) + ЖХТ Al+Si.


15. Формирование первого уровня металлизации:ФЛ №7 (контактные окна) + ПХТ SiO2 в окнах + напыление Al+Si или

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать доклад-презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Что такое TheSlide.ru?

Это сайт презентации, докладов, проектов в PowerPoint. Здесь удобно  хранить и делиться своими презентациями с другими пользователями.


Для правообладателей

Яндекс.Метрика