TheSlide.ru

ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ Инструменты и методы наноинженерии

Содержание

1. ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ Инструменты и методы наноинженерии
2. МИКРОСКОПИЯОптическаяЭлектроннаяСканирующая зондовая
3. Оптические микроскопыМикроскопДжона Каффа, 1750 г.Микроскоп XVII в., гравюраЭкспонат микроскопа, UP
4. Схема работы микроскопа1 – Осветительная лампа2 –
5. Дифракция и интерференция
6. Схема работы электронного микроскопа
7. Виды электронных микроскоповПросвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Растровый электронный
8. Общий вид электронного микроскопа
9. Принципиальная схема РЭМ
10. Туннельный эффектПринцип действия сканирующего туннельного микроскопа (СТМ)
11. Программное обеспечение СТМ
12. Режимы работы СТМРежим постоянной высотыРежим постоянного тока
13. СТМ снимкиПоверхность монокристаллического кремнияСнимок примесей замещения Cr
14. Принцип действия атомного силового микроскопа (АСМ)Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния между острием и образцом
15. Принцип работы АСМ
16. Схема работы АСМ
17. Рабочие части АСМЭлектронный микроснимок двух V-образных кантилеверов
18. Комбинированный фрикционный и рельефный снимок атомов графитаРазмер
19. Зонд FIRAT
20. СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НОВОГО МИКРОСКОПА
21. Скачать презентанцию

МИКРОСКОПИЯОптическаяЭлектроннаяСканирующая зондовая

Главная
Разное
ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ Инструменты и методы наноинженерии

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИ
Инструменты и методы наноинженерии

ОСНОВЫ НАНОИНЖЕНЕРИИИнструменты и методы наноинженерии

Слайд 2МИКРОСКОПИЯ
Оптическая

Электронная

Сканирующая зондовая

МИКРОСКОПИЯОптическаяЭлектроннаяСканирующая зондовая

Слайд 3Оптические микроскопы
Микроскоп
Джона Каффа, 1750 г.
Микроскоп XVII в., гравюра
Экспонат микроскопа, UP

Оптические микроскопыМикроскопДжона Каффа, 1750 г.Микроскоп XVII в., гравюраЭкспонат микроскопа, UP

Слайд 4Схема работы микроскопа
1 – Осветительная лампа
2 – Линза, используемая для

равномерного освещения объекта
3 – Полевая диафрагма для ограничения светового пучка
4

– Зеркало
5 – Апертурная диафрагма для ограничения светового пучка
6 – Конденсор
7 – Рассматриваемый объект (препарат)
7’ – Увеличенное действительное изображение объекта
7” – Увеличенное мнимое изображение объекта
8 – Объектив
9 – Окуляр
10 – Предметный столик

Схема работы микроскопа1 – Осветительная лампа2 – Линза, используемая для равномерного освещения объекта3 – Полевая диафрагма для

Слайд 5Дифракция и интерференция

Дифракция и интерференция

Слайд 6Схема работы электронного микроскопа

Схема работы электронного микроскопа

Слайд 7Виды электронных микроскопов
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

Растровый электронный микроскоп (РЭМ)

Растровый просвечивающий

электронный микроскоп (РТЭМ)

Зеркальный [отражательный] электронный микроскоп (ЗЭМ)

Виды электронных микроскоповПросвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Растровый электронный микроскоп (РЭМ)Растровый просвечивающий электронный микроскоп (РТЭМ)Зеркальный [отражательный] электронный микроскоп (ЗЭМ)

Слайд 8Общий вид электронного микроскопа

Общий вид электронного микроскопа

Слайд 9Принципиальная схема РЭМ

Принципиальная схема РЭМ

Слайд 10Туннельный эффект
Принцип действия сканирующего туннельного микроскопа (СТМ)

Туннельный эффектПринцип действия сканирующего туннельного микроскопа (СТМ)

Слайд 11Программное обеспечение СТМ

Программное обеспечение СТМ

Слайд 12Режимы работы СТМ
Режим постоянной высоты
Режим постоянного тока

Режимы работы СТМРежим постоянной высотыРежим постоянного тока

Слайд 13СТМ снимки
Поверхность монокристаллического кремния
Снимок примесей замещения Cr (небольшие выпуклости) на

поверхности Fe
Золото на слюде
0,19х0,19 мкм
Атомарная решетка высокоориентированного графита

СТМ снимкиПоверхность монокристаллического кремнияСнимок примесей замещения Cr (небольшие выпуклости) на поверхности FeЗолото на слюде 0,19х0,19 мкмАтомарная решетка

Слайд 14Принцип действия атомного силового микроскопа (АСМ)
Зависимость силы межатомного взаимодействия от

расстояния между острием и образцом

Принцип действия атомного силового микроскопа (АСМ)Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния между острием и образцом

Слайд 15Принцип работы АСМ

Принцип работы АСМ

Слайд 16Схема работы АСМ

Схема работы АСМ

Слайд 17Рабочие части АСМ
Электронный микроснимок двух V-образных кантилеверов длиной 100 мкм
Три

вида игл (каждая высотой 3 мкм)
Схематичное изображение конструкции АСМ с

кантилевером в виде цилиндрической пружины

Рабочие части АСМЭлектронный микроснимок двух V-образных кантилеверов длиной 100 мкмТри вида игл (каждая высотой 3 мкм)Схематичное изображение

Слайд 18Комбинированный фрикционный и рельефный снимок атомов графита
Размер участка – 2,5х2,5

нм.
Выпуклости отражают рельеф поверхности, а цвет – силы трения. Сканирование

проводилось справа налево

Комбинированный фрикционный и рельефный снимок атомов графитаРазмер участка – 2,5х2,5 нм.Выпуклости отражают рельеф поверхности, а цвет –

Слайд 19Зонд FIRAT

Зонд FIRAT

Слайд 20СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НОВОГО МИКРОСКОПА

СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НОВОГО МИКРОСКОПА

Скачать презентацию

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать доклад-презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть

Что такое TheSlide.ru?

Это сайт презентации, докладов, проектов в PowerPoint. Здесь удобно хранить и делиться своими презентациями с другими пользователями.

Для правообладателей