Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии,
Содержание
- 1. Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии,
- 2. План1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)2. Сканирующая
- 3. ЛитератураScanning probe microscopy and spectroscopy: methods and
- 4. Оптический микроскопДифракционный предел разрешения:апертура объектива 0.95 на
- 5. Электронный микроскопДифракционный предел разрешения:Де-бройлевская длина волны электрона λ=h/p:фокусируемыйэлектронныйлучСканирующий электронный микроскопсканирующийэлектронныйлучтермоэлектронный эмиттеравтоэлектронный эмиттер
- 6. СЭМ: принцип сканированияПринцип сканирования: увеличение M =L/l
- 7. ИзображениедифракционнойрешеткиСканирующий туннельный (зондовый) микроскоп
- 8. 1982 – 1-й СТМГенрих Рорер Герд Биннигизображениеповерхности
- 9. Что такое «сканирующий зонд»?
- 10. Основные элементы СЗМ
- 11. ПьезосканерX-Y-Z-сканерпьезокоэффициент d31 ~ -200 пм/ВΔL ≈ d31 L U / dПьезотрубка – самыйраспространенный X-Y-Z-сканер
- 12. Подведение зонда к образцу
- 13. Алгоритм подведения зондаПодведение зонда к образцу с
- 14. Примеры СЗМ и СТМГоловка сверхвысоковакуумного СЗМ “VP-2” (Veeco)миниатюрный СТМ EasyScan(NanoSurf)
- 15. Принцип сканирования
- 16. Формат данных в СЗМHDF - Hierarchical Data
- 17. Представление СЗМ данных
- 18. Скачать презентанцию
План1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)2. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)3. Сканирующая атомно-силовая микроскопия (АСМ)4. Применение средств СЗМ в изучении наноматериалов и наноструктур, СЗМ-наноинженерия
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1Основы высоковакуумной
сканирующей туннельной
микроскопии и спектроскопии,
атомно-силовая микроскопия
Слайд 2План
1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)
2. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
3.
Сканирующая атомно-силовая микроскопия (АСМ)
и наноструктур, СЗМ-наноинженерия
Слайд 3Литература
Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by Roland
Wiesendanger Cambridge University Press, 1994 ISBN 0521428475, 9780521428477
• Scanning Probe
Microscopy - Analytical Methods by Roland Wiesendanger, Springer, 1998 ISBN 3540638156, 9783540638155• Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy : Theory, Techniques, and Applications by Dawn Bonnell (Editor), Wiley-VCH, 2000
• Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by Ernst Meyer ,Hans Josef Hug, Roland Bennewitz, Springer-Verlag, 2003, ISBN: 3540431802
• Основы сканирующий зондовой микроскопии, Миронов В. Л., 2004. Твердый переплет. 144 с. цена : 186,00 руб (https://www.books.ru/shop/books/230464)
• Г. Бинниг, Г. Рорер, «Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности», УФН, 154 (2) (1988)
• http://www.ntmdt.ru/spm-basics
• http://www.veeco.com/library/
• http://www.almaden.ibm.com/vis/stm/
• http://www.nanoscience.de/group_
Г. Бинниг, Г. Рорер, «Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности», УФН, 154 (2) (1988)
Слайд 4Оптический микроскоп
Дифракционный предел разрешения:
апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5 в
масле
Оптический микроскоп даже с самой совершенной оптикой не может различить
об’екты меньшие половины длины световой волны: две параллельные линии, расположенные ближе чем 0.3 μm, будут видны как одна линия.
Слайд 5Электронный микроскоп
Дифракционный предел
разрешения:
Де-бройлевская длина волны электрона λ=h/p:
фокусируемый
электронный
луч
Сканирующий электронный микроскоп
сканирующий
электронный
луч
термоэлектронный
эмиттер
автоэлектронный эмиттер
Слайд 81982 – 1-й СТМ
Генрих Рорер Герд Бинниг
изображение
поверхности кремния с
атомным разрешением
Нобелевская
премия по физике (вместе с Эрнстом Руска) 1986
Слайд 11Пьезосканер
X-Y-Z-сканер
пьезокоэффициент d31 ~ -200 пм/В
ΔL ≈ d31 L U /
d
Пьезотрубка – самый
распространенный
X-Y-Z-сканер
Слайд 13Алгоритм подведения зонда
Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния от
поверхности 1мм до расстояния 0.1 нм (за 1 минуту) эквивалентно
полету к Луне с остановкой на высоте 40м над ее поверхностью (со скоростью 23 миллионов км/час)
Слайд 14Примеры СЗМ и СТМ
Головка сверхвысоковакуумного СЗМ “VP-2” (Veeco)
миниатюрный СТМ EasyScan
(NanoSurf)
Слайд 16Формат данных в СЗМ
HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический формат
данных) разрабатываемый The National Center for Supercomputing Applications (http://www.ncsa.uiuc.edu) с
1987г. и довольно широко используемый в настоящее время научным сообществом: http://www.hdfgroup.org/Географические информационные системы (ГИС) и дистанционное зондирование Земли
http://gis-lab.info/docs/hdf.html
