Слайд 2Лекция 1. Физико-математические модели нанотехнологии. Классификация методов моделирования строения наноструктур.
Механическая модель молекулы.
Силовые поля и их параметры. Энергия: растяжения
связи, угловой деформации, кручения, невалентных взаимодействий (включая ван-дер-ваальсовые и электростатические вклады).
Алгоритмы MM+, AMBER, OPLS, BIO+.
Компьютерная реализация моделирования наносистем методами молекулярной механики: программы MM4, CHARMM, AMBER, TINKER, HyperChem, ChemOffice.
Слайд 17Литература
Handbook of Theoretical and Computational Nanotechnology. Eds. M. Rieth and
W. Schommers (ISBN: 1-58883-042-X) В 10 томах. Изд-во ? Год
?.
Суздалев И.П. Нанотехнология: физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов. Серия "Синергетика: от прошлого к будущему". 2006.- 592 с.
1.П. В. Аврамов, С.Г. Овчинников. Квантово-химическое и молекулярно-динамическое моделирование структуры и свойств углеродных наноструктур и их производных. Изд-во СО РАН, Новосибирск, 2000, -169 стр.
2.Т. А. Романова, П. О. Краснов, С. В. Качин, П. В. Аврамов. Теория и практика компьютерного моделирования нанообъектов. Красноярск: ИПЦ КГТУ, 2002. - 223 с.
H. Kroto, J. Heath, S. O.Brien, R. Curl, R. Smalley. Nature, 1985, 318, 162
Бочвар Д. А., Гальперн Е. Г., Докл. АН СССР, 209, 610 (1973).
Корнилов М.Ю., Доклады АН УССР, серия «Б», 12, 1097 (1977).
A. Wagner, R.Flaig, D. Zobel, B. Dittrich, P. Bombicz, M. Strumpel, and P. Luger.
T. Koritsanszky, H.-G. Krane. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 6581-6590
R. C. Merkle, R. A. Freitas, Jr. J. Nanosci. Nanotech. 2003, 3, 1-6.
J. Peng, R. A. Freitas, Jr., R. C. Merkle. J. Comput. Theor. Nanosci. 2004, 1, 62 -70.
D.J. Mann, J. Peng, R. A. Freitas, Jr., R. C.Merkle, J. Comput. Theor. Nanosci. 2004, 1, 71-80.
J. Peng, R. A. Freitas, Jr., R. C. Merkle, J. R. Von Ehr, J. N. Randall, G.D. Skidmore.
J. Comput. Theor. Nanosci. 2006, 3, 28-41.
G. Meyer, K.H. Rieder, "Controlled manipulation of single atoms and small molecules with the scanning tunneling microscope," Surf. Sci. (1997) 377-379, 1087-1093.
M. K. Beyer, H. Clausen-Schaumann. Chem. Rev. 2005, 105, 2922-2948.