того, что микроскопические частицы (атомы, ионы, молекулы) сами состоят из
электрически заряженных фрагментов.короткодействие
насыщаемость
тензорный характер (неизотропность)
Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Конденсированные струкутры
Содержание
- 1. Конденсированные струкутры
- 2. Межмолекулярные взаимодействия (ММВ)ММВ — остаточные электромагнитные взаимодействия,
- 3. Дисперсионные ММВ
- 4. Дипольные ММВ Индукционные ММВ | p |
- 5. Ориентационные ММВ
- 6. Ионные ММВ
- 7. Слайд 7
- 8. Суммарный потенциал ММВ
- 9. Характеристики конденсированных системспособ (тип) упаковки частиц в объеме,поверхность,молярный (удельный) объем.электронные,энергетические,геометрические, МикроскопическиеМакроскопические
- 10. СТРУКТУРЫОбразуются самопроизвольно за счет внутренних ресурсовСпособны существовать
- 11. Равновесные структуры
- 12. Диссипативные структуры (автоволны)
- 13. Слайд 13
- 14. Равновесные макроструктурыОбразование равновесных структур происходит за счет
- 15. ФАЗАРФЭС
- 16. СИСТЕМЫ(система связей задается раз и навсегда)(связи могут
- 17. АМОРФНОЕсостояние фазыКРИСТАЛЛИЧЕСКОЕ состояние фазыВлияние температуры
- 18. Белое олово (-форма)Серое олово (-форма) 13 С 13 С
- 19. Пространственная конфигурацияФункция распределенияP = f (r, , )Радиальная функция распределения= R( r ) (, )
- 20. Угловая функция распределения
- 21. «Дальний» порядок«Ближний» порядокr * = r * = 1 2 нмРадиус корреляции
- 22. Метод многоранников (Д. Бернал)
- 23. Модель кристаллической решетки
- 24. Слайд 24
- 25. 14 типов кристал-лических решеток (решетки Браве)
- 26. Глобальные формы кристаллических образцов
- 27. КрокоитГематит
- 28. АльбитКрокоитФлюорит
- 29. КРИСТАЛЛСвободные атомы (электроны) и вакансии (дырки)ДислокацииРебра и уступыКоллоидная химия и катализЭлектроника и лазерная оптикаКонструкционные материалы
- 30. Примеры собственных дефектов
- 31. Дефекты состава
- 32. Слайд 32
- 33. Влияние температуры на концентрацию собственных дефектов
- 34. Методы исследования твердых тел и поверхностей
- 35. Слайд 35
- 36. При облучении образца рентгеновскими лучами может наблюдаться
- 37. Рентгеновская дифрактометрияИнформация — тип кристаллической решетки, межплоскостные расстояния и др.
- 38. Лауэрограмма произвольно установленного монокристалла бериллаЛауэрограмма ориентированного монокристалла берилла
- 39. Нейтронограмма поликристаллического образца BiFeO3
- 40. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)Основное назначение — химический анализ поверхности твердых тел (ЭСХА)
- 41. Типичный РФЭ-спектр для окисленной и восстановленной форм родиевого катализатора (RhCl3/Al2O3)
- 42. Информация о характере и интенсивности взаимодействия активного компонента с носителем
- 43. Метод протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (ПТСРП)ИнформацияМежатомные
- 44. Чувствительность ПТС к структуре образца
- 45. ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия На рисунке приведены
- 46. рассеяние (дифракция) и отражениеварианты метода электронной микроскопии
- 47. Электронная микроскопияПЭМ — просвечивающая электронная микроскопияСЭМ —
- 48. Влияние условий образования на форму кристаллитов (ПЭМ)
- 49. Дифракция медленных нейтроновГлавное достоинство нейтронографии — высокая
- 50. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS)При воздействии интенсивного пучка
- 51. Метод упругого рассеяния низкоэнергетических ионов (LEIS)В этом
- 52. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)Информациягеометрия поверхностиразмеров и форма частиц на ней
- 53. Слайд 53
- 54. Результат СТМ-сканирования в катализаторе риформинга Pt-Rh/Al2O3. Несмотря
- 55. Атомарная структура пиролитического графита сканирующая туннельная микроскопия 4 нм x 4 нм
- 56. Атомы золота (большие черные точки)на поверхности монокристалла никеля
- 57. Сканирующая атомно-силовая микроскопия (SFM, AFM)Используя острия разной
- 58. Результат сканирования поверхности катализатора Rh/SiO2. Частицы родия(черные точки) имеют размеры около 2,5 нм.
- 59. Температурно-программированные реакции (TP Techniquis)Образец катализатора помещают в
- 60. Процесс сульфидирования молибден-оксидного катализатора (MoO3/Al2O3) в смеси
- 61. Функциональный анализ поверхностиИК-спектроскопия — функциональные группы (–ОН,
- 62. Химические методы функционального анализаТитрование оксидных катализаторов и
- 63. Промежуточные типы структур1. Надмолекулярные структуры (НМС)
- 64. Слайд 64
- 65. «Сферолиты»
- 66. Слайд 66
- 67. Третичная и четвертичная структура белковМолекула фермента —
- 68. Фрагмент молекулы алкогольдегидрогеназыФиолетовым цветом выделена молекула НАД
- 69. Слайд 69
- 70. Слайд 70
- 71. Слайд 71
- 72. 2. Наноструктуры
- 73. Изображение микроглобулы кремнезема с нанесенными металлическими частицами, полученное с помощью СЭМ.
- 74. ФуллереныНанотрубки
- 75. Углеродные нанотрубки на поверхности кремния, размер изображения 1.5 мкм x 1.5 мкм
- 76. Слайд 76
- 77. 3. Жидкие кристаллы
- 78. Слайд 78
- 79. 4. «Айсберговые» структурыТ
- 80. 5. Пористые телаТип пор цилиндрические, конические, щелевидные
- 81. Фрактальный характер пористых телhttp://polit.ru/article/2011/08/18/oganov2011txt/
- 82. Скачать презентанцию
Межмолекулярные взаимодействия (ММВ)ММВ — остаточные электромагнитные взаимодействия, возникающие за счет того, что микроскопические частицы (атомы, ионы, молекулы) сами состоят из электрически заряженных фрагментов. короткодействие насыщаемость тензорный характер (неизотропность)
Слайды и текст этой презентации
Слайд 2Межмолекулярные взаимодействия (ММВ)
ММВ — остаточные электромагнитные взаимодействия, возникающие за счет
Слайд 4Дипольные ММВ
Индукционные ММВ
| p | — модуль вектора
электрического дипольного момента полярной частицы,
—
индукционная поляризуемость неполярной частицы)
Слайд 9Характеристики конденсированных систем
способ (тип) упаковки частиц в объеме,
поверхность,
молярный (удельный) объем.
электронные,
энергетические,
геометрические,
Микроскопические
Макроскопические
Слайд 10СТРУКТУРЫ
Образуются самопроизвольно за счет внутренних ресурсов
Способны существовать в условиях изоляции
Образуются
только при наличии внешних воздействий определенного типа
Не способны существовать в
условиях изоляцииКристаллическая решетка
Атомы
Молекулы
Автоколебания
Вихри
Живые организмы
Слайд 14Равновесные макроструктуры
Образование равновесных структур происходит за счет чисто внутренних причин
— межчастичных взаимодействий, обусловленных строением частиц, тогда как окружающая среда
не играет в этом процессе сколько-нибудь заметной роли.
Слайд 16СИСТЕМЫ
(система связей задается раз и навсегда)
(связи могут появляться и исчезать)
МОЛЕКУЛЫ
МАКРОСТРУКТУРЫ
За
счет влияния термостата определенная доля межмолекулярных связей разорвана
S = Eтерм
/ T
Слайд 19Пространственная конфигурация
Функция распределения
P = f (r, , )
Радиальная функция распределения
=
R( r ) (, )
Слайд 29КРИСТАЛЛ
Свободные атомы (электроны) и вакансии (дырки)
Дислокации
Ребра и уступы
Коллоидная химия
и
катализ
Электроника и лазерная оптика
Конструкционные материалы
Слайд 36При облучении образца рентгеновскими лучами может наблюдаться несколько эффектов.
1) рассеяние
(дифракция) и преломление первичного пучка — методы РСА и рентгеновской
дифрактометрии;2) фотоэлектронный эффект — метод РФЭС;
3) энергетическое возбуждение электронов (с последующей релаксацией) — методы рентгеновской флуоресценции и ПТСРП.
При облучении образца гамма-лучами происходит возбуждение атомных ядер — ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия.
Методы, основанные на применении
рентгеновского или гамма-излучения
Слайд 37Рентгеновская дифрактометрия
Информация — тип кристаллической решетки, межплоскостные расстояния и др.
Слайд 38Лауэрограмма произвольно установленного монокристалла берилла
Лауэрограмма ориентированного монокристалла берилла
Слайд 40Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
Основное назначение — химический анализ поверхности твердых
тел (ЭСХА)
Слайд 41Типичный РФЭ-спектр для окисленной и восстановленной форм родиевого катализатора (RhCl3/Al2O3)
Слайд 43Метод протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (ПТСРП)
Информация
Межатомные расстояния
(с
точностью до 0,005 нм)
Координационные числа
Симметрия пространственной конфигурации атомов
Слайд 45
ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия
На рисунке приведены ЯГР-спектры для катализатора Fe/TiO2, исследованного
на разных стадиях — свежеприготовленного, восстановленного и после использования в
реакции Фишера-Тропша, выдержанного на воздухе. Четко видны разные валентные формы железа.Метод ЯГР-спектроскопии особенно эффективен при исследовании полиметаллических катализаторов, так как полосы в ЯГР-спектрах практически никогда не перекрываются вследствие исключительно малой ширины.
Слайд 46рассеяние (дифракция) и отражение
варианты метода электронной микроскопии (ПЭМ и СЭМ)
электронография
(LEED)
нейтронография
методы LEIS (рассеяние ионных пучков низкой энергии)
RBS (резерфордовское отражение от
ядер атомов);2) ионизация и испарение образца, приводящие к вторичной эмиссии — масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS);
3) наведенная радиоактивность.
Вторая группа методов — использование в качестве зонда пучков элементарных частиц — электронов, нейтронов, протонов, легких ионов.
Слайд 47Электронная микроскопия
ПЭМ — просвечивающая электронная микроскопия
СЭМ — сканирующая электронная микроскопия
Информация
— форма частиц, их агломерация, тип кристаллической решетки, наличие дефектов
и т.д.
Слайд 49Дифракция медленных нейтронов
Главное достоинство нейтронографии — высокая чувствительность к легким
атомам, которые практически не участвуют в рассеянии рентгеновских лучей и
электронов.Поэтому нейтронографию можно использовать для исследования не только нанесенных металлических частиц, но и носителя (структура пор, размеры частиц, поверхностная диффузия атомов и молекул, колебательные переходы в адсорбированных молекулах, наблюдается изотопный эффект).
Слайд 50Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS)
При воздействии интенсивного пучка ионов (обычно ионы
Ar+ с энергией 1-5 кэВ) с поверхности образца испаряется часть
вещества в виде атомных и молекулярных ионов, которые анализируются с помощью масс-спектрометра.
Слайд 51Метод упругого рассеяния низкоэнергетических ионов (LEIS)
В этом методе исследуют характер
упругого рассеяния первичного пучка низкоэнергетических ионов. Этот характер зависит от
соотношения масс ионов пучка и атомов поверхности.По индикатрисе рассеяния можно определить спектр масс поверхностных атомов и их химическое окружение.
Слайд 52Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
Информация
геометрия поверхности
размеров и форма частиц на ней
Слайд 54Результат СТМ-сканирования в катализаторе риформинга
Pt-Rh/Al2O3.
Несмотря на эквимолярное соотношение
компонентов сплава, поверхность содержит 69 % атомов платины (серые точки)
и только 31 % атомов родия (белые точки).
Слайд 57Сканирующая атомно-силовая микроскопия (SFM, AFM)
Используя острия разной толщины, можно настраивать
АСМ на исследование частиц, размеры которых лежат в определенном масштабном
диапазоне.
Слайд 58Результат сканирования поверхности катализатора Rh/SiO2.
Частицы родия
(черные точки)
имеют размеры
около 2,5 нм.
Слайд 59Температурно-программированные реакции (TP Techniquis)
Образец катализатора помещают в специальную среду (водород,
кислород, сероводород и т.д.) и в температурно-программируемом режиме наблюдают за
расходованием реагента и образованием продуктов реакции (восстановление, окисление, сульфидирование и т.д.).Дополнительно можно следить за тепловыми эффектами (дифференциальная калориметрия).
В этом случае осуществляют электрохимические реакции обратимого окисления-восстановления атомов металла на поверхности катализатора.
Циклическая (инверсионная) вольтамперометрия
Слайд 60Процесс сульфидирования молибден-оксидного катализатора
(MoO3/Al2O3)
в смеси H2 и H2S.
Четко видно, что
в интервале 400-500 К протекает
сульфидирование с
образование воды, при 550 К наблюдается восстановление сульфида молибдена водородом.
Слайд 61Функциональный анализ поверхности
ИК-спектроскопия — функциональные группы (–ОН, –О– и др.)
или малые адсорбированные молекулы (H2O, CO, CO2, NO, CN и
др.) на поверхности носителя
Слайд 62Химические методы функционального анализа
Титрование оксидных катализаторов и носителей метиллитием
Si—OH +
CH3Li Si—OLi + CH4
Выделяющийся газообразный метан можно количественно определить
волюмометрическим методом. Метод радиоактивных индикаторов (МРИ)
Радиоактивные изотопные метки (обычно, С14) вводятся в молекулы субстрата.
Регистрация продуктов β-распада позволяет «следить» за протеканием химических реакций и до известной степени контролировать механизм каталитической реакции.
Слайд 67Третичная и четвертичная структура белков
Молекула фермента — алкоголь-дегидрогеназы
Пространственная форма молекулы
точно воспроизводится за счет межмолекулярных взаимодействий между частями белкового хвоста
Слайд 68Фрагмент молекулы алкогольдегидрогеназы
Фиолетовым цветом выделена молекула НАД — кофермента, акцептора
водорода
Работоспособность комплекса целиком зависит от формы белковой части фермента,
присоединяющей молекулу НАД 
Слайд 73Изображение микроглобулы кремнезема с нанесенными металлическими частицами, полученное с помощью
СЭМ.
Слайд 805. Пористые тела
Тип пор
цилиндрические, конические, щелевидные и т.д.
Диаметр пор
2
– 1000 нм
Удельная поверхность
1 – 1000 м2/г
Кремнеземы
Al2O3
Цеолиты
Активированный уголь
Сшитые полимеры
Основные характеристики
