Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Принципиальные схемы установок. Применение метода лазерной дифракции
Содержание
- 1. Принципиальные схемы установок. Применение метода лазерной дифракции
- 2. Элементы анализаторов размера частиц Источник света Оптическая системаСистема детекторовГлавныеПрибор корреляции
- 3. Источник света Ла́зер ( от англ. light amplification by stimulated emission
- 4. Источник света Обычно состоит из трёх основных
- 5. Характеристики качества излучения лазеровОсновные требования:КогерентностьМонохроматичностьПоляризацияДополнительные требования:-высокая однородность
- 6. Виды лазеровГазовые лазеры (He-Ne, CO2)Полупроводниковые лазерыЖидкостной лазерТвердотельные лазеры
- 7. Виды лазеров
- 8. -Компания Fritsch (Два полупроводниковых лазера(Зеленый с λ
- 9. Детекторы фотонов Фоторезистивные детекторы;Фотогальванические детекторы; Фототранзисторы ;Фотоэмиссионные устройства
- 10. Фотоэлектронный умножитель
- 11. Прибор корреляцииКоррелятор Photocor - FC
- 12. Временная автокорреляционная функция Для больших времен корреляция
- 13. Корреляционная функция интенсивности рассеянного света имеет вид:Волновой вектор флуктуаций концентрации описывается выражением:Автокорреляционная функция рассеянного света
- 14. Модели:-Photocor-PC1: Автокорреляционная система с одним фотоумножителем для
- 15. Приборы
- 16. Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)Основная конструкция
- 17. Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)Инверсная конструкция Фурье
- 18. Патент фирмы FRITSCH
- 19. Измерение обратного рассеяния
- 20. ANALYSETTE 22 MicroTec plus измерение частиц в
- 21. Распределение размеров частиц, измеренное прибором Analysette 22 MicroTec plus
- 22. 1.Оптический блок анализатора 2. Компьютер 3. Выдвижная
- 23. Лазерное измерение размеров частиц и молекулярной
- 24. 1.Лазер2. Кювета
- 25. Пределы измерений анализаторов Zetasizer Nano (компания Malvern)
- 26. Аттенюатор (показатель ослабления)
- 27. Лазерное измерение размера наночастиц (компания Horiba)
- 28. МОДЕЛЬ LA-300 (компания Horiba)-Компактный анализатор размеров частиц
- 29. МОДЕЛЬ LA-300 (компания Horiba)
- 30. МОДЕЛЬ LA-950 (компания Horiba)Особенности-Предельно широкий диапазон одновременно
- 31. МОДЕЛЬ LA-950 (компания Horiba)
- 32. Слайд 32
- 33. МОДЕЛЬ LB-550 (компания Horiba)Особенности-широкий диапазон измеряемых размеров
- 34. Лазерное измерение размера наночастиц (компания Beckman Coulter)
- 35. LS 13320 SWизмерение частиц в диапазоне 0.4
- 36. Дополнительные модули
- 37. Дополнительные модули
- 38. Лазерное измерение размеров частиц (Компания «Biomedical Systems»
- 39. Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов (анализатор Zetasizer Nano)
- 40. Слайд 40
- 41. Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- 42. Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- 43. Пример. ЦементС помощью анализатора LA-950 тип цемента
- 44. Пример использования анализатора LB-550. На диаграмме показан
- 45. Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- 46. Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- 47. Значения среднего диаметра и полуширины распределений образцов КЗ-16 и КЗ-60 по данным методов ПЭМ и ДРС
- 48. Скачать презентанцию
Элементы анализаторов размера частиц Источник света Оптическая системаСистема детекторовГлавныеПрибор корреляции
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1Метод лазерной дифракции для исследования наноматериалов и наноструктур
Лекция 3. Принципиальные
схемы установок. Применение метода лазерной дифракции.
Слайд 2Элементы анализаторов размера частиц
Источник света
Оптическая система
Система детекторов
Главные
Прибор корреляции
Слайд 3Источник света
Ла́зер ( от англ. light amplification by stimulated emission of radiation — усиление
света посредством вынужденного излучения ), опти́ческий ква́нтовый генера́тор — устройство, преобразующее энергию накачки (световую, электрическую, тепловую, химическую и др.)
в энергию когерентного, монохроматического, поляризованного и узконаправленного потока излучения.
Слайд 4Источник света
Обычно состоит из трёх основных элементов:
-Источник энергии (механизм «накачки»)
-Рабочее тело
-Система
зеркал («оптический резонатор»)
1 — активная среда; 2 — энергия накачки лазера;
3 — непрозрачное зеркало; 4 — полупрозрачное зеркало; 5 — лазерный луч.
Слайд 5Характеристики качества излучения лазеров
Основные требования:
Когерентность
Монохроматичность
Поляризация
Дополнительные требования:
-высокая однородность и стабильность параметров
излучения
-приемлемые эксплуатационные характеристики:
-максимальный ресурс и надежность,
-простота конструкции и обслуживания,
-минимальный вес
и размеры-экономическая эффективность
Слайд 6Виды лазеров
Газовые лазеры (He-Ne, CO2)
Полупроводниковые лазеры
Жидкостной лазер
Твердотельные лазеры
Слайд 8-Компания Fritsch (Два полупроводниковых лазера
(Зеленый с λ = 532 нм,
7 мВт; ИК с λ = 940 нм, 9 мВт) -Компания
Malvern (He-Ne с λ=633 нм, DPSS с λ=532 нм )-Компания Horiba (лазерный диод с λ= 650 нм, 5 мВт; светодиод с λ= 405 нм )
-Компания Beckman Coulter (твердотельный лазер с λ= 780 нм + вольфрамовая лампа 450, 600 и 900 нм)
-Компания «Biomedical Systems» (лазерный диод с λ= 670 нм)
Слайд 9Детекторы фотонов
Фоторезистивные детекторы;
Фотогальванические детекторы;
Фототранзисторы ;
Фотоэмиссионные устройства
Слайд 12Временная автокорреляционная функция
Для больших времен корреляция отсутствует, и автокорреляционная
функция равна квадрату средней интенсивности рассеяния
Релаксация микроскопических флуктуаций концентрации к
равновесному состоянию может быть описана первым законом Фика
Слайд 13Корреляционная функция интенсивности рассеянного света имеет вид:
Волновой вектор флуктуаций концентрации
описывается выражением:
Автокорреляционная функция рассеянного света
Слайд 14
Модели:
-Photocor-PC1: Автокорреляционная система с одним фотоумножителем для обычных измерений.
-Photocor-PC2: Кросскорреляционная
система с двумя фотоумножителями с полным отсутствием после импульсов для
повышения точности измерения размеров наночастиц в диапазоне 1нм - 10 нм (показана на фотографии).Система счета фотонов Photocor-PC
Слайд 20ANALYSETTE 22 MicroTec plus
измерение частиц в диапазоне 0.08— 2000 мкм
(Два полупроводниковых лазера
Зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт),
ИК (λ
= 940 нм, 9 мВт)Линейная поляризация
Средний срок службы 10000 часов
ANALYSETTE 22 NanoTec plus
Диспергирование в жидкой среде: 0,01 – 2000 мкм
Диспергирование в сухой среде: 0,1 – 2000 мкм
Возможные диапазоны измерений:
0,01 – 45 мкм / 0,08 – 45 мкм / 15 – 2000 мкм /0,01 – 2000 мкм / 0,08 – 2000 мкм
Три полупроводниковых лазера
2 x зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт),
1 x ИК (λ = 940 нм, 9 мВт)
Линейная поляризация
Средний срок службы 10000 часов
Модели
Слайд 221.Оптический блок анализатора 2. Компьютер 3. Выдвижная подставка для кювет
4. Термоколпачок 5. Термообкладка
Устройство и принцип работы анализатора Malvern Zetasizer
Nano (компания Malvern)
Слайд 23Лазерное измерение размеров частиц и молекулярной массы (компания Malvern)
1.Лазер
2.
Кювета с образцом
3. Детектор
4. Аттенюатор
5. Коррелятор
6.Компьютер
Принципиальная схема
Слайд 24
1.Лазер
2. Кювета с образцом
3. Детектор
4.Цифровой
процессор сигнала
5. Компьютер
6. Аттенюатор
7.Компенсирующая оптика
Принципиальная схема
Лазерное измерение дзета
- потенциала (компания Malvern)
Слайд 28МОДЕЛЬ LA-300 (компания Horiba)
-Компактный анализатор размеров частиц модели LА-300 является
идеальной комбинацией высокой функциональности, экономичности, легкости управления и технического обслуживания.
Особенности
-диапазон
измеряемых размеров от 0,1 мкм до 600 мкм;-среднее время измерения ~ 30 сек.;
-измерения в эмульсиях и суспензиях;
-высокая повторяемость благодаря функции автокалибровки;
-мобильность и компактный размер;
-простота в использовании и обслуживании.
Слайд 30МОДЕЛЬ LA-950 (компания Horiba)
Особенности
-Предельно широкий диапазон одновременно измеряемых размеров от
10 нм до 3 мм;
-Измерения в суспензиях, эмульсиях и сухих
порошках;-Время измерения ~ 1 мин;
-Экстремально высокое разрешение в субмикронном диапазоне;
-Эффективный ультразвук для предотвращения слипания, образования агломератов.
Слайд 33МОДЕЛЬ LB-550 (компания Horiba)
Особенности
-широкий диапазон измеряемых размеров от 1 нм
до 6 000 нм;
-широкий диапазон концентраций от 1 ppm до
40% твердой фазы;-короткое время измерения благодаря быстрым преобразованиям Фурье;
-точность и надежность в компактном приборе;
-встроенный вискозиметр (опция);
-одноразовые пластиковые, стеклянные проточные кюветы, ячейки малого объема,
база данных вязкостей материалов;
-легкая эксплуатация и техническое обслуживание прибора.
Слайд 35LS 13320 SW
измерение частиц в диапазоне 0.4 мкм — 2000 мкм (Твердотельный
лазер 780 нм)
LS 13320 MW
измерение частиц в диапазоне 17 нм —
2000 мкм, с использованием метода PIDS ( (дифференциальное рассеивание поляризованного света)(Твердотельный лазер 780 нм + вольфрамовая лампа 450, 600 и 900 нм)
Модели
Слайд 39Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов (анализатор Zetasizer Nano)
Слайд 43
Пример. Цемент
С помощью анализатора LA-950 тип цемента может быть измерен
в мокрой или сухой среде. Так как для измерения цемента
в жидкой фазе требуется этанол, сухие измерения являются менее дорогими и требуют меньше усилий.
Слайд 44Пример использования анализатора LB-550. На диаграмме показан гранулометрический состав суспензии SiO2
, измеренный анализатором LB-550V.
Диаграмма показывает хорошую повторяемость измерений в
диапазоне различных концентраций образца.
Слайд 45Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
Рис. Полученные методом
ПЭМ изображения наночастиц и соответствующие гистограммы распределения для КЗ-16 (а,
б) и КЗ-60 (в, г).
Слайд 46Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
Рис. (а) –
Распределение по интенсивностям рассеяния, (б) – распределения по объему (1)
и числу частиц (2), полученные из измерений корреляционной функции для образца КЗ-16 при рассеянии назад; 3 – гистограмма, полученная по данным ПЭМ.
Слайд 47Значения среднего диаметра и полуширины распределений образцов КЗ-16 и КЗ-60
по данным методов ПЭМ и ДРС
