зависимости от того, в какой мере определение химического состава вещества
данным методом основано на использованиихимических реакций или
физико-химических и
физических процессов.
Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Аналитические методы в геохимии
Содержание
- 1. Аналитические методы в геохимии
- 2. Методы анализа называютхимическими, физико-химическими, физическими
- 3. Физико-химические и физические методы называют инструментальными, так
- 4. 19851986
- 5. 19971997
- 6. Высокочувствительные методы анализа вещества, в том числе
- 7. Деление методов по локальности исследования:ВАЛОВЫЕ МЕТОДЫЛОКАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ
- 8. Фотон – элементарная частица, квант электромагнитного поля
- 9. Если до открытия в 1859 г. Г.Киргофом
- 10. Слайд 10
- 11. Слайд 11
- 12. СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Метод качественного и количественного
- 13. Слайд 13
- 14. Часто под спектральным анализом понимают только атомно-эмиссионный
- 15. Оптический эмиссионный спектральный анализ основан на свойстве
- 16. Набор длин волн спектральных линий, излучаемых атомом,
- 17. Источники излучения (энергии) для анализа растворов –
- 18. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой
- 19. Слайд 19
- 20. Мощность передается газам плазмы путем индукционного разогрева.
- 21. ICP-OES Inductively coupled plasma-optical emissionspectrometry
- 22. РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯРентгеноспектральный флуоресцентный анализ (XRF, РФА, РСФА)
- 23. Слайд 23
- 24. Слайд 24
- 25. Различные электронные орбитали обозначаются K,L,M и.т.д., где
- 26. Слайд 26
- 27. Слайд 27
- 28. Метод основан на зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции
- 29. Слайд 29
- 30. Слайд 30
- 31. Когда атомы образца облучаются фотонами с высокой
- 32. Такой переход сопровождается испусканием энергии в виде
- 33. В принципиальной схеме рентгеновского спектрометра источником первичного
- 34. Флуоресцентное излучение пробы направляется на дифрагирующий кристалл
- 35. "Силикатный анализ". Определяемые компоненты: Na2O, MgO, Al2O3,
- 36. XRF спектрометр последовательного действия Philips PW2400 Спектрометр MiniPal 4
- 37. Слайд 37
- 38. Слайд 38
- 39. Слайд 39
- 40. Слайд 40
- 41. Слайд 41
- 42. Слайд 42
- 43. АТОМНАЯ АБСОРБЦИЯАтомно-абсорбционая спектроскопия (ААС) – метод количественного
- 44. Величина энергии при поглощении (атомной абсорбции) является
- 45. Методом ААС могут определяться около 60 элементов (в
- 46. В зависимости от способа получения поглощающего слоя
- 47. Слайд 47
- 48. Слайд 48
- 49. Слайд 49
- 50. Слайд 50
- 51. НЕЙТРОННО-АКТИВАЦИОННЫЙ АНАЛИЗПримерно с середины прошлого века ведущим
- 52. ИНАА - наиболее чувствительный метод химического анализа
- 53. Слайд 53
- 54. Слайд 54
- 55. Слайд 55
- 56. Облучение производится потоком тепловых нейтронов. После облучения
- 57. Слайд 57
- 58. Слайд 58
- 59. Предметом изучения учёных стали волосы Наполеона, которые
- 60. 2. МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯМасс-спектрометрия - физический метод измерения отношения
- 61. Первое, что надо сделать для того, чтобы
- 62. Первый метод, наиболее распространенный, ионизация в так
- 63. Масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмойБолее тонкие и разнообразные
- 64. В настоящее время достигнута способность обрабатывать более
- 65. Основной областью применения ICP-MS является анализ жидких
- 66. ICP-MS позволяет определять элементы с атомной массой
- 67. ELEMENT2 самый чувствительный прибор элементного анализа и единственный ICP-MS высокого разрешения
- 68. Слайд 68
- 69. Слайд 69
- 70. Метод изотопного разбавленияМетод изотопного разбавления (ID-TIMS) основан
- 71. Слайд 71
- 72. Слайд 72
- 73. 1 analysis per hour $100 per analysisConsumes whole crystal ± 0.3% accuracy ID-TIMS
- 74. Метод обладает высокой чувствительностью и точностью, которая
- 75. Можно анализировать относительную распространенность изотопов щелочных, щелочноземельных,
- 76. Слайд 76
- 77. Слайд 77
- 78. Слайд 78
- 79. Слайд 79
- 80. Слайд 80
- 81. Слайд 81
- 82. Слайд 82
- 83. Слайд 83
- 84. ЛОКАЛЬНЫЕ МЕТОДЫМетоды, используемые при исследовании состава горных
- 85. Электронно-зондовый микроанализ (EPMA) и растровая электронная микроскопия
- 86. 2008
- 87. Слайд 87
- 88. е
- 89. Слайд 89
- 90. Слайд 90
- 91. Слайд 91
- 92. Слайд 92
- 93. Слайд 93
- 94. Слайд 94
- 95. Слайд 95
- 96. Слайд 96
- 97. Для проведения электронно-зондового микроанализа SEM оборудован системой
- 98. Детектор вторичных электронов (SE) предназначен для регистрации
- 99. Домен циркона с аномально высокой степенью метасоматического изменения CD
- 100. Профили распределения по линии А-В и C-D в домене ZrnCD
- 101. LA-ICP-MSСистема лазерной абляции, или система "Лазерного Пробоотбора"
- 102. Слайд 102
- 103. Слайд 103
- 104. Laser Ablation MultiCollector Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (LA-MC-ICPMS)
- 105. U-Th-Pb analysis
- 106. Data acquisitionTrue Age = 1440 Ma Overall fractionation of 206Pb/238U (~20%) Changing fractionation with depth (~10%)
- 107. Слайд 107
- 108. Слайд 108
- 109. Слайд 109
- 110. Слайд 110
- 111. Слайд 111
- 112. Слайд 112
- 113. Слайд 113
- 114. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS, ВИМС)Источник ионов формирует
- 115. ОбразецПервичный ионный источник1 мЭнергетический анализаторМагнитСчетчик ионовИонный микрозонд
- 116. Слайд 116
- 117. Слайд 117
- 118. Слайд 118
- 119. Слайд 119
- 120. Cameca-IMS-4f
- 121. Слайд 121
- 122. СРАВНЕНИЕ МЕТОДОВ U-Pb ДАТИРОВАНИЯ
- 123. Точность и точность
- 124. Скачать презентанцию
Методы анализа называютхимическими, физико-химическими, физическими в зависимости от того, в какой мере определение химического состава вещества данным методом основано на использовании химических реакций или физико-химических и
Слайды и текст этой презентации
Слайд 2 Методы анализа называют
химическими,
физико-химическими,
физическими
в
химических реакций или
физико-химических и
физических процессов.
Слайд 3
Физико-химические и физические методы называют инструментальными, так как они требуют
применения приборов, измерительных элементов.
Принцип определения химического состава любыми методами один
и тот же: состав вещества определяется по его свойствам. Например, спектры испускания, поглощения и отражения веществом излучений имеют характерный для каждого вещества вид.
Слайд 6Высокочувствительные методы анализа вещества, в том числе геологического, различаются прежде
всего по своим физико-химическим принципам – общепринятым является подразделение методов
наспектроскопические,
масс-спектрометрические и близкие к ним
ядерно-физические и радиохимические методы
Слайд 9Если до открытия в 1859 г. Г.Киргофом и Р.Бунзеном спектрального
анализа (дуга в сочетании с фотопластинкой) основными аналитическими методами методами,
применявшимися при анализе минералов и других геологических объектов, были т.н. методы «мокрой химии», то после открытия спектрального анализа, этот метод стал ведущим в геохимии практически на целое столетие.1. СПЕКТРОМЕТРИЯ
Слайд 12СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
Метод качественного и количественного определения состава веществ,
основанный на исследовании их спектров испускания, поглощения, отражения и люминесценции.
Различают атомный и молекулярный спектральный анализ. Эмиссионный спектральный анализ проводят по спектрам испускания атомов, ионов или молекул, возбужденных различными способами.
Абсорбционный спектральный анализ - по спектрам поглощения электромагнитного излучения анализируемыми объектами.
Слайд 14Часто под спектральным анализом понимают только атомно-эмиссионный спектральный анализ (АЭСА)
- метод элементного анализа, основанный на изучении спектров испускания свободных
атомов и ионов в газовой фазе в области длин волн 150-800 нм.Пробу исследуемого вещества вводят в источник излучения, где происходят ее испарение, диссоциация молекул и возбуждение образовавшихся атомов (ионов). Последние испускают характеристическое излучение, которое поступает в регистрирующее устройство спектрального прибора.
Слайд 15Оптический эмиссионный спектральный анализ основан на свойстве атомов и ионов
химических элементов, находящихся в парообразном состоянии, излучать характерный световой спектр.
Атом
может находиться в различных, но строго определенных дискретных энергетических состояниях. Состояние с минимальной энергией (наиболее устойчивое) – основное. Переход атома из возбужденного состояния в основное сопровождается выделением кванта света.
Слайд 16Набор длин волн спектральных линий, излучаемых атомом, определяется набором энергетических
состояний, в которых он может находиться.
Интенсивность спектральной линии дает основную
информацию о концентрации элемента в пробе.Количественная эмиссионная спектрометрия предполагает, что испускаемая энергия пропорциональна концентрации атомов или ионов. Сравнение спектрограмм проб и близких к ним (по химическому и фазовому составу) эталонов.
Слайд 17Источники излучения (энергии) для анализа растворов – пламя и плазма.
Источники
излучения для прямого анализа твердых проб – искра и дуга.
Эмиссионная
спектрометрия в настоящее время замещена практически полностью пламенной атомно-абсорбционной спектрометрией.
Слайд 18 Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой ICP-AES
Плазма – ионизированный
газ, который макроскопически нейтрален. Индуктивно-связанная плазма (ICP) образуется при возбуждении
высокочастотного поля в катушке. Плазма обычно состоит из ионизированного инертного газа (аргона).Подходит для анализа любой пробы, которую можно перевести в раствор.
Основным ограничением является необходимость использовать растворы.
Слайд 20Мощность передается газам плазмы путем индукционного разогрева. Взаимодействие пульсирующего магнитного
поля с текущим газом создает «пламя» ICP.
Поддерживается горение плазмы при
Т 6000-10000 К. Возбуждаемый материал (аэрозоль) пробы проходит по центральному каналу и разогревается до 8000 К.Достигается практически полная атомизация, высокая степень возбуждения атомов и частичная атомизация.
Требуется малая навеска пробы (< 1-10 мг).
Слайд 22РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ
Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ (XRF, РФА, РСФА) - метод анализа,
используемый для определения концентраций элементов от Be до U в
диапазоне от 0.0001% до 100% в веществах различного происхождения.Основан на взаимодействии электронов рентгеновского пучка с электронами мишени (пробы).
Слайд 25Различные электронные орбитали обозначаются K,L,M и.т.д., где К - орбиталь,
ближайшая к ядру. Каждой орбитали электрона в атоме каждого элемента
соответствует собственный энергетический уровень. Энергия испускаемого вторичного фотона определяется разницей между энергией начальной и конечной орбиталей, между которыми произошел переход электрона.
Слайд 28Метод основан на зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции от концентрации элемента
в образце.
При облучении образца мощным потоком излучения рентгеновской трубки
возникает характеристическое флуоресцентное излучение атомов, которое пропорционально их концентрации в образце. Излучение разлагается в спектр при помощи кристалл-анализаторов, далее с помощью детекторов и счетной электроники измеряется его интенсивность.
Слайд 31Когда атомы образца облучаются фотонами с высокой энергией - возбуждающим
первичным излучением рентгеновской трубки, это вызывает испускание электронов. Электроны покидают
атом.Как следствие, в одной или более электронных орбиталях образуются "дырки" - вакансии, благодаря чему атомы переходят в возбужденное состояние, т.е. становятся нестабильны.
Через миллионные доли секунды атомы возвращаются к стабильному состоянию, когда вакансии во внутренних орбиталях заполняются электронами из внешних орбиталей.
Слайд 32Такой переход сопровождается испусканием энергии в виде вторичного фотона -
этот феномен и называется "флуоресценция''. Энергия вторичного фотона находится в
диапазоне энергий рентгеновского излучения, которое располагается в спектре электромагнитных колебаний между ультрафиолетом и гамма-излучением.Математическая обработка спектра позволяет проводить количественный и качественный анализ. Определение легких элементов (до Mg) затруднено, т.к. у них сложные перекрывающиеся спектры.
Слайд 33В принципиальной схеме рентгеновского спектрометра источником первичного рентгеновского излучения служит
вакуумная рентгеновская трубка.
При подаче высокого напряжения между анодом и
катодом возникает поток ускоренных разностью потенциалов электронов. При соударении с материалом катода и резком торможении большая часть энергии электронного потока освобождается в виде тормозного рентгеновского излучения.
Слайд 34Флуоресцентное излучение пробы направляется на дифрагирующий кристалл (аналог дифракционной решетки
при оптическом излучении). Отраженное от кристалла излучение попадает на детектор,
измеряющий его интенсивность.Про определенном положении кристалла и детектора можно получить на детекторе от линии строго определенного элемента сигнал, интенсивность которого прямо связана с концентраций данного элемента в пробе.
Слайд 35"Силикатный анализ". Определяемые компоненты: Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, S,
K2O, CaO, TiO2, MnO, Fe2O3, ППП. Обычно этот вид анализа
требует определения всех элементов макросостава. Одним из явных признаков качества результатов является сумма компонентов, полученная при анализе. Считается нормальным, если она находится в пределах от 98.5 до 100.5%."Анализ микроэлементов". Пример определяемых компонентов: Cr, Sc, V, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Pb, Ba, Th, U, Ga, Cl. Набор элементов можно менять в широких пределах, отказываясь от ненужных и добавляя требуемые.
Слайд 43АТОМНАЯ АБСОРБЦИЯ
Атомно-абсорбционая спектроскопия (ААС) – метод количественного анализа, основанный на
свойствах атомов поглощать свет с определенной длиной волны (резонансное поглощение).
При
использовании пламени (Т <3000 C) проба переходит в парообразное одноатомное состояние, но большинство атомов находятся в основном энергетическом состоянии и способны поглощать (абсорбировать) энергию из внешнего источника – излучателя. 
Слайд 44Величина энергии при поглощении (атомной абсорбции) является фиксированной для каждого
элемента. Возникает спектр поглощения электромагнитного излучения парами пробы. Абсорбционные линии
атомов в основном состоянии именуют резонансными линиями.Проба в виде раствора подается в пламя горелки, где переходит в одноатомное парообразное состояние.
Э/м излучение («свет») – от внешнего источника возбуждения, лампы с катодом из определяемого металла. Установленный позади горелки детектор фиксирует количество неабсорбированного излучения, прошедшего сквозь пары пробы, что позволяет установить количество элемента.
Слайд 45Методом ААС могут определяться около 60 элементов (в основном металлы и
ряд переходных элементов), кроме элементов из которых невозможно изготовить материал
катода.Одновременно можно определить только один элемент.
Пробу приходится переводить в раствор.
Значительное количество раствора, нужное для многоэлементного анализа, может повлиять на чувствительность.
Применяют для определения1-2 элементов в большом числе проб горных пород и вод.
Слайд 46В зависимости от способа получения поглощающего слоя атомов выделяют 4
основных типов техники атомизации:
пламенная атомизация – испарение и атомизация
происходят в пламени электротермическая атомизация (ЭТА) – испарение и атомизация пробы происходит в графитовой трубке (графитовой печи), нагреваемой электрическим током до температур 1500 – 3000 °С
гидридная техника – в кварцевой ячейке или графитовой печи, нагреваемой электрическим током, происходит разложение газообразных гидридов, образованных в специальном реакторе.
метод «холодного пара» - основан на свойстве ртути существовать при нормальных условиях в газовой фазе в виде свободных атомов.
Слайд 51НЕЙТРОННО-АКТИВАЦИОННЫЙ АНАЛИЗ
Примерно с середины прошлого века ведущим аналитическим методом при
анализе геохимических и космохимических объектов становится нейтронно-активационный анализ (НАА) в
его радиохимическом (РНАА) и инструментальных вариантах (ИНАА).
Слайд 52ИНАА - наиболее чувствительный метод химического анализа многих элементов периодической
таблицы. Он основан на анализе радиоактивных изотопов, которые образуются в
образце под воздействием облучения тепловыми нейтронами. Только легкие элементы (такие, как бор, кислород, азот и углерод) не образуют изотопов, пригодных для исследования НАА.Используется ядерный реактор или ускоритель заряженных частиц.
Отсутствие загрязнений, простая градуировка, хорошая чувствительность.
Слайд 56Облучение производится потоком тепловых нейтронов. После облучения образцы выдерживаются в
течение 24 - 48 часов, чтобы обеспечить уменьшение излучения радиоактивных
изотопов. Наиболее распространенным является анализ g излучения образовавшихся изотопов с энергией квантов от 0.1 до 2.5 МэВ. Это излучение регистрируется литиево-германиевым детектором и анализируется многоканальным анализатором.Для идентификации изотопа, излучение которого регистрируется при НАА, определяют период его полураспада и энергию g квантов (пропорциональную конц.)
Слайд 59Предметом изучения учёных стали волосы Наполеона, которые при помощи нейтронно-активационного
анализа. Толчком к подобным экспериментам послужили упорные слухи об отравлении
Наполеона мышьяком. В эпоху Наполеона содержание мышьяка в волосах людей в сто раз превышало его количество у ныне живущих французов и итальянцев. Повышенная концентрация мышьяка в те времена считалась нормой. Он сопровождал человека в течение всей его жизни, начиная от обоев в детской комнате и заканчивая многочисленными продуктами и товарами, широко распространёнными в XIX веке.
Слайд 602. МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ
Масс-спектрометрия - физический метод измерения отношения массы заряженных частиц
материи (ионов) к их заряду.
Существенное отличие масс-спектрометрии от других аналитических
физико-химических методов состоит в том, что оптические, рентгеновские и некоторые другие методы детектируют излучение или поглощение энергии молекулами или атомами, а масс-спектрометрия имеет дело с самими частицами вещества. Для этого используются законы движения заряженных частиц материи в магнитном или электрическом поле. Масс-спектр - это просто рассортировка заряженных частиц по их массам (точнее отношениям массы к заряду).
Слайд 61Первое, что надо сделать для того, чтобы получить масс-спектр, -
превратить нейтральные молекулы и атомы, составляющие любое органическое или неорганическое
вещество, в заряженные частицы - ионы. Этот процесс называется ионизацией.Энергии связи атомов в твердом теле гораздо больше и значительно более жесткие методы необходимо использовать для того, чтобы разорвать эти связи и получить ионы. Многие способы ионизации были опробованы и на сегодняшний день лишь несколько из них применяются в аналитической масс-спектральной практике.
Слайд 62Первый метод, наиболее распространенный, ионизация в так называемой индуктивно-связанной плазме
(7000 К). Индуктивно-связанная плазма (ИСП, ICP) образуется внутри горелки, в
которой горит аргон.Другой способ - это так называемая термоионизация или поверхностная ионизация. Анализируемое вещество наносится на проволочку из тугоплавкого металла, по которой пропускается ток, разогревающий ее до высокой температуры. Нанесенное вещество испаряется и ионизируется. Метод обычно используется в изотопной масс-спектрометрии.
Слайд 63Масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой
Более тонкие и разнообразные задачи современной геохимии
и космохимии привели к созданию одного из современных аналитических методов
ICP-MS (масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой), позволяющей проводить одновременное определение большого числа элементов, а также ряда изотопов с очень низкими пределами обнаружения (на уровне 1.0-0.01 ppb и даже ниже).
Слайд 64В настоящее время достигнута способность обрабатывать более 950 проб за
8 ч, по данным производителей приборов, это самая высокая производительность
среди прочих геохимических методов. Автоматическая система ввода образца обеспечивает простоту и удобство при обработке большого количества проб.Огромный динамический диапазон, покрывающий девять порядков, позволяет одновременно определять следовые количества элементов на фоне других, находящихся в макроконцентрациях.
Слайд 65Основной областью применения ICP-MS является анализ жидких образцов. Существует множетсво
способов введения раствора в ICP, но все они в основном
достигают единого результата - они образуют ультрадисперсный аэрозоль, который может быть эффективно ионизован в плазменном разряде. Только 1-2% процента пробы достигают плазмы.
Слайд 66ICP-MS позволяет определять элементы с атомной массой от 7 до
250, то есть от Li до U. Однако некоторые массы
не поределяются, например, 40, из-за присутствия в образце большого количества аргона. Обычный ICP-MS прибор способен определить содержание от нанограммов в литре до 10-100 миллиграмм в литреВ отличие от атомно-абсорбционной спектроскопии, определяющей единовременно только один элемент, ICP-MS может определять все элементы одновременно, что позволяет значительно ускорить процесс измерения.
Слайд 67ELEMENT2 самый чувствительный прибор элементного анализа и единственный ICP-MS высокого разрешения
Слайд 70Метод изотопного разбавления
Метод изотопного разбавления (ID-TIMS) основан на использовании индикатора
– элемента, имеющего отличный от природного изотопный состав (применяются стабильные
и радиоактивные изотопы, так называемые меченые атомы). Изменение изотопного состава природного элемента, обусловленное добавлением известного количества индикатора, позволяет вычислить содержание определяемого элемента.
Слайд 74Метод обладает высокой чувствительностью и точностью, которая зависит от выбора
оптимального соотношения элемента и индикатора-разбавителя. Применим для определения содержания любого
элемента, состоящего из двух или более стабильных изотопов. Поэтому методом изотопного разбавления невозможно определить содержание ряда РЗЭ (Pr, Tb, Ho, Tm). Метод достаточно трудоемок, используется в геохронологии, где требуется высокая точность определения.
Слайд 75Можно анализировать относительную распространенность изотопов щелочных, щелочноземельных, редкоземельных элементов, металлов
платиновой группы, урана, тория, свинца, трансуранов и др.
Слайд 84ЛОКАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ
Методы, используемые при исследовании состава горных пород и минералов,
можно условно разделить на две группы:
валовые методы, когда анализируется
порода в целом или монофракция минералалокальные методы с определением содержания главных и редких элементов in situ, непосредственно «в точке».
Для геохронологии (U-Pb система) используются локальные методы: SIMS, LA-ICP-MS (циркон и др.), реже EPMA (не циркон).
Слайд 85Электронно-зондовый микроанализ (EPMA) и растровая электронная микроскопия (SEM)
В приборе формируется
сфокусированный пучок электронов с энергией 10-15 Кэв. При попадании пучка
электронов на изучаемый объект возникает несколько видов излучений, несущих ту или иную информацию: характеристическое и тормозное рентгеновское излучение, обратно-рассеянные (обратно-отраженные) и вторичные электроны, катодолюминесценция.Анализ характеристического рентгеновского излучения дает информацию об элементном составе объекта.
Слайд 97Для проведения электронно-зондового микроанализа SEM оборудован системой INCA Energy 200
c энергодисперсионным спектрометром (EDS), позволяющей определять химический состав объекта в
широком элементном диапазоне (от B до U).Сканирующий Электронный Микроскоп CamScan MX2500S с рентгеновским микроанализатором и катодолюминесцентным детектором
Слайд 98Детектор вторичных электронов (SE) предназначен для регистрации низко энергетических вторичных
электронов, формирующих топографическое изображение.
Детектор обратно-рассеянных электронов (BSE) позволяет выявить
фазовую неоднородность объекта. 
Слайд 101LA-ICP-MS
Система лазерной абляции, или система "Лазерного Пробоотбора" в комплекте с
эксимерным лазером DUV 193 (Lambda Physic Compex) может использоваться совместно
с элементным высокоразрешающим, высокочувствительным масс-спектрометром
Слайд 106Data acquisition
True Age = 1440 Ma
Overall fractionation of
206Pb/238U (~20%)
Changing fractionation with depth (~10%)
Слайд 114Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS, ВИМС)
Источник ионов формирует ионный пучок, который
развертывается в растр на поверхности образца и распыляет материал с
этой поверхности. Ионизированные компоненты распыленного вещества анализируются по массе и результаты анализа отображаются в виде силы тока вторичного ионного пучка в зависимости от массы иона или двухмерного изображения распределения вторичного пучка по массе ионов.
Слайд 115Образец
Первичный ионный источник
1 м
Энергетический
анализатор
Магнит
Счетчик ионов
Ионный микрозонд
