Разделы презентаций


Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ

Лекция 22 Слайд 2Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и К. Викрамасингхом в 1987 г. для исследования локальных магнитных свойств образцов. Данный прибор представляет собой атомно-силовой микроскоп, у которого зонд покрыт

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1Лекция 22 Слайд 1
Темы лекции

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ).
Квазистатические методики в

МСМ.
Колебательные методики в МСМ.

Лекция 22							Слайд 1Темы лекцииПринцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ).Квазистатические методики в МСМ.Колебательные методики в МСМ.

Слайд 2Лекция 22 Слайд 2
Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и

К. Викрамасингхом в 1987 г. для исследования локальных магнитных свойств

образцов. Данный прибор представляет собой атомно-силовой микроскоп, у которого зонд покрыт слоем ферромагнитного материала с удельной намагниченностью M(r).
Принцип действия МСМ











Лекция 22							Слайд 2Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и К. Викрамасингхом в 1987 г. для исследования

Слайд 3Лекция 22 Слайд 3
В общем случае описание взаимодействия зонда МСМ с

полем образца H(r) представляет собой достаточно сложную задачу. В качестве

простейшей модели рассмотрим зонд МСМ в виде одиночного магнитного диполя, характеризующегося магнитным моментом μ.
Потенциальная энергия такой системы
U = –μH.
В поле H на магнитный диполь действует сила
f = –gradU
и момент сил
N = [μH].
В однородном магнитном поле сила f = 0, так что на диполь действует лишь момент сил, который разворачивает магнитный момент μ вдоль поля. В неоднородном поле диполь втягивается в область с большей напряженностью H.












Лекция 22							Слайд 3В общем случае описание взаимодействия зонда МСМ с полем образца H(r) представляет собой достаточно сложную

Слайд 4Лекция 22 Слайд 4
В общем случае магнитный момент зонда МСМ можно

представить как суперпозицию диполей вида M(r)dV, где M(r) – удельная

намагниченность магнитного покрытия.
Взаимодействие зонда МСМ с магнитным полем образца















Лекция 22							Слайд 4В общем случае магнитный момент зонда МСМ можно представить как суперпозицию диполей вида M(r)dV, где

Слайд 5Лекция 22 Слайд 5
Полная энергия магнитного взаимодействия зонда и образца в

соответствие с предыдущим рисунком может быть представлена в следующем виде:



где

интегрирование проводится по магнитному слою зонда.
Отсюда сила взаимодействия зонда с полем образца


Соответственно z-компонента силы:











Лекция 22							Слайд 5Полная энергия магнитного взаимодействия зонда и образца в соответствие с предыдущим рисунком может быть представлена

Слайд 6Лекция 22 Слайд 6
Квазистатические методики


Для образцов, имеющих слабо развитый рельеф поверхности.
МСМ

изображение поверхности получают следующим образом. Во время сканирования зондовый датчик

перемещается над образцом на некотором расстоянии h = const. При этом величина изгиба кантилевера, регистрируемая оптической системой, записывается в виде МСМ изображения F(x,y), представляющего собой распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.























Лекция 22							Слайд 6Квазистатические методикиДля образцов, имеющих слабо развитый рельеф поверхности.МСМ изображение поверхности получают следующим образом. Во время

Слайд 7Лекция 22 Слайд 7
Для исследований магнитных образцов с сильно развитым рельефом

поверхности применяется двухпроходная методика. В каждой строке сканирования производится следующая

процедура. На первом проходе снимается АСМ изображение рельефа в контактном или полуконтактном режиме. Затем зондовый датчик отводится от поверхности на расстояние z0, и осуществляется повторное сканирование
























Лекция 22							Слайд 7Для исследований магнитных образцов с сильно развитым рельефом поверхности применяется двухпроходная методика. В каждой строке

Слайд 8Лекция 22 Слайд 8
Расстояние z0 выбирается таким образом, чтобы сила Ван-дер-Ваальса

была меньше силы магнитного взаимодействия.

На втором проходе датчик перемещается над

поверхностью по траектории, повторяющей рельеф образца.
Поскольку в этом случае локальное расстояние между зондовым датчиком и поверхностью в каждой точке постоянно, изменения изгиба кантилевера в процессе сканирования связаны с неоднородностью магнитных сил, действующих на зонд со стороны образца.

Таким образом, итоговый МСМ кадр представляет собой двумерную функцию F(x,y), характеризующую распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.

















Лекция 22							Слайд 8Расстояние z0 выбирается таким образом, чтобы сила Ван-дер-Ваальса была меньше силы магнитного взаимодействия.На втором проходе

Слайд 9Лекция 22 Слайд 9
Колебательные методики
Применение колебательных методик в магнитно-силовой микроскопии позволяет

реализовать большую (по сравнению с квазистатическими методиками) чувствительность и получать

более качественные МСМ изображения образцов. Как было показано в лекции, посвященной бесконтактной методике АСМ, наличие градиента силы приводит к изменению резонансной частоты, а следовательно, к сдвигу АЧХ и ФЧХ системы зонд-образец. Данные изменения резонансных свойств системы используются для получения информации о неоднородном распределении намагниченности на поверхности образцов. В случае магнитного взаимодействия зонда с поверхностью сдвиг резонансной частоты колеблющегося кантилевера будет определяться производной по координате z от величины Fz























Лекция 22							Слайд 9Колебательные методикиПрименение колебательных методик в магнитно-силовой микроскопии позволяет реализовать большую (по сравнению с квазистатическими методиками)

Слайд 10Лекция 22 Слайд 10
Для получения МСМ

изображения поверхности используется двухпроходная методика.
С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера

на частоте ω вблизи резонанса.
На первом проходе в полуконтактном режиме записывается рельеф поверхности.
На втором проходе зондовый датчик движется над образцом по траектории, соответствующей рельефу, так, что расстояние между ним и поверхностью в каждой точке равно величине z0 = const, определяемой оператором.
МСМ изображение формируется посредством регистрации изменений амплитуды или фазы колебаний кантилевера.























Лекция 22						     Слайд 10Для получения МСМ изображения поверхности используется двухпроходная методика.С помощью пьезовибратора

Слайд 11Лекция 22 Слайд 11
Изменения амплитуды и

сдвиг фазы колебаний, связанные с вариациями градиента силы, при условии,

что изменения Fz' вдоль поверхности невелики, будут равны





Коэффициенты перед ΔFz' определяют чувствительность амплитудного и фазового методов измерения. Максимум чувствительности достигается при определенных частотах возбуждения кантилевера.




















Лекция 22						     Слайд 11Изменения амплитуды и сдвиг фазы колебаний, связанные с вариациями градиента

Слайд 12Лекция 22 Слайд 12
МСМ изображения поверхности

магнитного диска.











(а) – АСМ изображение рельефа поверхности; (б) – МСМ

изображение фазового контраста; (в) – МСМ изображение амплитудного контраста; (г) – МСМ изображение распределения силы взаимодействия зонда с поверхностью.



















Лекция 22						     Слайд 12МСМ изображения поверхности магнитного диска.(а) – АСМ изображение рельефа поверхности;

Слайд 13Лекция 22 Слайд 13
МСМ изображение массива

магнитных наночастиц, сформированных методом интерференционного лазерного отжига пленок Fe-Cr


























Лекция 22						     Слайд 13МСМ изображение массива магнитных наночастиц, сформированных методом интерференционного лазерного отжига

Слайд 14Лекция 22 Слайд 14
Недостатком контактных АСМ

методик является непосредственное механическое взаимодействие зонда с поверхностью. Это часто

приводит к поломке зондов и разрушению поверхности образцов. Кроме того, контактные методики практически не пригодны для исследования образцов, обладающих малой механической жесткостью (структуры на основе ряда органических материалов и многие биологические объекты).
Для исследования таких образцов применяются колебательные АСМ методики, основанные на регистрации параметров взаимодействия колеблющегося кантилевера с поверхностью. Данные методики позволят существенно уменьшить механическое воздействие зонда на поверхность в процессе сканирования.


























Лекция 22						     Слайд 14Недостатком контактных АСМ методик является непосредственное механическое взаимодействие зонда с

Слайд 15Лекция 22 Слайд 15
Точное описание колебаний

кантилевера зондового датчика АСМ представляет собой весьма сложную математическую задачу.

С целью упрощения задачи, рассмотрим процессы, происходящие при взаимодействии колеблющегося кантилевера с поверхностью, в рамках модели сосредоточенной массы. Пусть имеется кантилевер в виде упругой консоли с жесткостью k, с сосредоточенной массой m на одном конце. Другой конец консоли закреплен на пьезовибраторе ПВ




























Лекция 22						     Слайд 15Точное описание колебаний кантилевера зондового датчика АСМ представляет собой весьма

Слайд 16Лекция 22 Слайд 16
Если пьезовибратор совершает

гармонические колебания u = u0cosωt с частотой ω, тогда уравнение

движения такой колебательной системы имеет вид


где член, пропорциональный первой производной по времени, учитывает силы вязкого трения со стороны воздуха, а посредством F0 обозначена сила тяжести и другие возможные постоянные силы.
Как известно, постоянная сила лишь смещает положение равновесия системы и не влияет на частоту, амплитуду и фазу колебаний. Делая замену переменных z = z + F0/k (т.е. рассматривая колебания относительно нового состояния равновесия), можно привести уравнение движения кантилевера к виду:






























Лекция 22						     Слайд 16Если пьезовибратор совершает гармонические колебания u = u0cosωt с частотой

Слайд 17Лекция 22 Слайд 17
Разделив уравнение на

m и введя параметр добротности системы Q = ω0m/γ, получим

уравнение движения в следующем виде:


Амплитудно-частотная (АЧХ) и фазо-частотная (ФЧХ) характеристики кантилевера, отвечающие данному уравнению







Величина ωrd, определяющая сдвиг относительно резонансной частоты ω0 находится из соотношения ωrd2 = ω02(1 – 1/2Q2).































Лекция 22						     Слайд 17Разделив уравнение на m и введя параметр добротности системы Q

Слайд 18Лекция 22 Слайд 18
В бесконтактном режиме

кантилевер совершает вынужденные колебания с малой амплитудой порядка 1 нм.

При приближении зонда к поверхности на кантилевер начинает действовать дополнительная сила со стороны образца. При ван-дер-ваальсовом взаимодействии это соответствует области расстояний между зондом и образцом, где действует сила притяжения. Появление такой дополнительной силы немного модифицирует вышеприведенные уравнения и в результате АЧХ и ФЧХ приобретают вид






Дополнительный сдвиг фазы при наличии градиента силы
































Лекция 22						     Слайд 18В бесконтактном режиме кантилевер совершает вынужденные колебания с малой амплитудой

Слайд 19Лекция 22 Слайд 19
Регистрация изменения амплитуды

и фазы колебаний кантилевера в бесконтактном режиме требует высокой чувствительности

и устойчивости работы обратной связи.
На практике чаще используется т.н. полуконтактный режим колебаний кантилевера. При работе в этом режиме возбуждаются вынужденные колебания кантилевера вблизи резонанса с амплитудой порядка 10 – 100 нм. Кантилевер подводится к поверхности так, чтобы в нижнем полупериоде колебаний происходило касание поверхности образца.
При сканировании образца регистрируется изменение амплитуды и фазы колебаний кантилевера.
































Лекция 22						     Слайд 19Регистрация изменения амплитуды и фазы колебаний кантилевера в бесконтактном режиме

Слайд 20Лекция 22 Слайд 20
Формирование АСМ изображения

поверхности в режиме колебаний кантилевера происходит следующим образом.
С помощью пьезовибратора

возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω (близкой к резонансной частоте кантилевера) с амплитудой Аω. При сканировании система обратной связи АСМ поддерживает постоянной амплитуду колебаний кантилевера на уровне A0, задаваемом оператором (A0 < Аω).
Напряжение в петле обратной связи (на z-электроде сканера) записывается в память компьютера в качестве АСМ изображения рельефа поверхности.
Одновременно при сканировании образца в каждой точке регистрируется изменение фазы колебаний кантилевера, которое записывается в виде распределения фазового контраста.
































Лекция 22						     Слайд 20Формирование АСМ изображения поверхности в режиме колебаний кантилевера происходит следующим

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать доклад-презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Что такое TheSlide.ru?

Это сайт презентации, докладов, проектов в PowerPoint. Здесь удобно  хранить и делиться своими презентациями с другими пользователями.


Для правообладателей

Яндекс.Метрика