Люминесцентный анализ

суффикс, означает слабое действие) способность некоторых веществ испускать видимый свет

под воздействием различного рода излучений (ультрафиолетового, рентгеновского, лазерного и пр.).

В настоящее время люминесценцией называют неравновесное излучение, избыточное по отношению к тепловому излучению тела, после возбуждения продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний (τ ~ 10–10).

на:

флюоресценцию, быстро затухающую после окончания возбуждения (от 10–9 до 10–1

с);

фосфоресценцию, затухание которой заметно на глаз (дольше 10–1 с).

возбуждения выделяют несколько видов люминесценции, различающихся также характером физических процессов,

протекающих в минерале:

фотолюминесценция – возбуждение производится электромагнитным излучением оптических частот;

катодолюминесценция – возбуждение осуществляется за счет энергии падающих электронов;

радиолюминесценция – возбуждение возникает под действием различных видов радиоактивного излучения;

химических реакций;

термолюминесценция – свечение возникающее при нагревании;

триболюминесценция – свечении возникающее

при трении.

ртутные газоразрядные лампы низкого, высокого и сверхвысокого давления различной мощности.

Для наблюдения фотолюминесценции применяются различного вида осветители (ОИ-18, ЛСП-103), люминоcкопы (ЛРВ-1) микроскоп-спектрофотометры (МСФУ-К) предназначенные для фотометрических исследований микрообъектов и микроучастков макрообъектов

спектра люминесценции применяют люминесцентный фотометр и спектрографы. Кроме того для

оперативной диагностики в полевых условиях применяют различные варианты отечественных полевых осветителей-люминоскопов («Шеелит», «Минилюм» и т.д).

микроскопии

исследования с помощью электронных микроскопов микроструктуры тел (вплоть до атомно-молекулярного

уровня), их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъёмах тел электрических и магнитных полей (микрополей).

который дает возможность получать сильные увеличения объектов, используя для их

освещения электроны. Электронный микроскоп позволяет видеть такие мелкие детали, которые не разрешимы в световом (оптическом) микроскопе и широко применяется в научных исследованиях строения вещества.

исследования объектов различают несколько типов: просвечивающие, отражательные, эмиссионные, растровые, теневые

электронные микроскопы. Наиболее распространены микроскопы просвечивающего и растрового типа, обладающие высокой разрешающей способностью и универсальностью.

на три класса:

микроскопия (ПЭМ)

Растровая электронная микроскопия (РЭМ)

Электронно-зондовый микроанализ

круг минералогических задач, и этот круг расширяется по мере развития

метода.
В ПЭМ, в зависимости от решаемых задач, используются различные методы: суспензии, реплики, ионное травление, ультрамикротомирование, декорирование, прямое наблюдение плоских сеток и др.

многом схож со световым микроскопом. Отличие между ними в том,

что для освещения образцов в ПЭМ используется не свет, а пучок электронов.
В состав обычного просвечивающего электронного микроскопа входят: электронный прожектор, ряд конденсорных линз, объективная линза и проекционная система, которая соответствует окуляру, но проецирует действительное изображение на экран. Источником электронов обычно является нагреваемый катод из вольфрама или гексаборида лантана.

научно-исследовательских лабораториях.
По своим техническим возможностям он сочетает в

себе качества как светового (СМ), так и просвечивающего электронного (ПЭМ) микроскопов, но является более многофункциональным.

поверхности образца электронным зондом и детектирование (распознавание) возникающего при этом

широкого спектра излучений. Сигналами для получения изображения в РЭМ служат вторичные, отраженные и поглощённые электроны.
Принцип действия РЭМ основан на использовании некоторых эффектов, возникающих при облучении поверхности объектов тонко сфокусированным пучком электронов – зондом. В результате взаимодействия электронов с образцом (веществом) генерируются различные сигналы.

определение элементного состава локального участка исследуемого вещества.
Электронно-зондовый микроанализ позволяет обнаружить

присутствие в объеме порядка 0,1-2 мкм3 практически всех элементов периодической системы в пределах 2–20 % их массового содержания. С его помощью можно проводить количественный химический анализ шлифов и аншлифов из сплавов, минералов, шлаков, органических и неорганических соединений на все элементы без разрушения исходного образца.
Абсолютная чувствительность электронно-зондового микроанализа гораздо меньше, чем чувствительность методов эмиссионного спектрального или рентгеновского флуоресцентного анализа.

сложные вакуумные приборы, состоящие из электронно-оптической системы (электронная пушка и

электромагнитные линзы), оптического микроскопа и устройства для сканирования распределения элементов по поверхности объекта (рентгеновский спектрометр).

Рентгеновские спектрометры улавливают возникшее в образце рентгеновское излучение, а специальные приставки автоматически регистрируют интенсивность линий и все параметры процесса.