конденсор;
3 - объект;
4 - объектив;
5 - первичное промежуточное
изображение; 6 - вторичное промежуточное изображение;
7 – проекционная линза.
Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Электронная микроскопия
Содержание
- 1. Электронная микроскопия
- 2. Принципиальная схема просвечивающего электронного микроскопа1 - источник
- 3. Получение репликСхема получения электронномикроскопических препаратов (реплик): а - исходный образец в поперечном разрезе; б – реплика.
- 4. Задачи, решаемые с помощью просвечивающей электронной микроскопии Метод
- 5. Примеры изображенийИзображения стыка трех зерен, полученные с
- 6. Примеры изображенийДва встречных дефекта упаковки в 4H-SiC.
- 7. Примеры изображенийИзображение фуллеренового (С60) кристалла с разрешением
- 8. Примеры изображенийКвантовая точка - кристаллик Ge в матрице 4H-SiC
- 9. Взаимодействие пучка электронов с веществомЭффекты, возникающие при
- 10. Принципиальная схема растрового электронного микроскопа1 - катод;
- 11. Скачать презентанцию
Принципиальная схема просвечивающего электронного микроскопа1 - источник излучения; 2 - конденсор;3 - объект; 4 - объектив; 5 - первичное промежуточное изображение; 6 - вторичное промежуточное изображение; 7 – проекционная линза.
Слайды и текст этой презентации
Слайд 2Принципиальная схема просвечивающего электронного микроскопа
1 - источник излучения;
2 -
конденсор;
изображение;6 - вторичное промежуточное изображение;
7 – проекционная линза.
Слайд 3 Получение реплик
Схема получения электронномикроскопических препаратов (реплик):
а - исходный образец
в поперечном разрезе;
б – реплика.
Слайд 4Задачи, решаемые с помощью просвечивающей электронной микроскопии
Метод просвечивающей электронной микроскопии
позволяет изучать внутреннюю структуру исследуемых металлов и сплавов, в частности:
-
определять тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз; - определять ориентационные соотношения между фазой и матрицей;
- изучать строение границ зерен;
- определять кристаллографическую ориентацию отдельных зерен, субзерен;
- определять углы разориентировки между зернами, субзернами;
- определять плоскости залегания дефектов кристаллического строения;
- изучать плотность и распределение дислокаций в материалах изделий;
- изучать процессы структурных и фазовых превращений в сплавах;
- изучать влияние на структуру конструкционных материалов технологических факторов.
Слайд 5 Примеры изображений
Изображения стыка трех зерен, полученные с помощью ПЭМ на
двухступенчатой реплике (а) и на фольге (б).
Слайд 6 Примеры изображений
Два встречных дефекта упаковки в 4H-SiC. Изображение получено на
микроскопе JEM-3010 в зоне [2 -1 -1 0] карбида.
Слайд 7 Примеры изображений
Изображение фуллеренового (С60) кристалла с разрешением структуры. Фотография получена
на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2010 при ускоряющем напряжении 200кВ без
охлаждения. Исходная пленка была полностью окристаллизована. Под воздействием пучка просходит быстрое разрушение структуры: изображение получено в течение 1 мин с начала облучения данного участка, в последующем структура полностью аморфизуется
Слайд 9Взаимодействие пучка электронов с веществом
Эффекты, возникающие при взаимодействии пучка электронов
с веществом:
1 - электронный пучок;
2 - образец;
3
- отраженные электроны; 4 - вторичные электроны;
5 - ток поглощенных электронов;
6 - катодолюминесценция;
7 - рентгеновское излучение;
8 - Оже-электроны;
9 - наведенный ток;
10 - прошедшие электроны
Слайд 10Принципиальная схема растрового электронного микроскопа
1 - катод; 2 - фокусирующий
электрод; 3 - анод; 4 - ограничивающая диафрагма; 5 -
первая кондесорная линза; 6 - вторая конденсорная линза; 7 - отклоняющие катушки; 8 - стигматор; 9 - конечная (объективная) линза; 10 - диафрагма, ограничивающая размер пучка; 11 - детектор рентгеновского излучения; 12 - усилитель фотоумножителя; 13 - генераторы развертки; 14 - образец; 15 - детектор вторичных электронов; 16 - к отклоняющим катушкам; 17 - управление увеличением; 18 - ЭЛТ
