Метрики тестирования

IEEE 982.1-1998 (стандартного словаря метрик).
IEEE 1. Плотность отказов =

[Число уникальных отказов, найденных при тестировании ] / [ Число строк кода ].
IEEE 2. Плотность дефектов = [Число уникальных дефектов, найденных при тестировании ] / [ Число строк кода ].
IEEE 5. Функциональный охват теста = [Число протестированных функциональных требований ] / [ Общее число требований ]
IEEE 18. Надежность работы выражается вероятностью того, что в k произвольных случаях работы программа вернет корректный результат. Эта величина оценивается через выполнение некоторого числа запусков программы (N) и вычисления числа случаев успешной работы (S). Вероятность успеха, таким образом, вычисляется как S/N, а вероятность возможности отработать k раз успешно - как произведение вероятностей каждого успешного запуска, то есть [S/N]×[S/N]×… ×[S/N], или [S/N]^k. Входные данные для каждого случая выбираются произвольно и независимо от предыдущего запуска.
IEEE 20. Среднее время обнаружения k отказов. Это значение вычисляется аналогично надежности работы (см. IEEE 18 выше).

(методом засева). Эта оценка получена путем «засеивания» в программу N

произвольных отказов. Если s - число найденных засеянных отказов, а f - число других отказов, найденных за тот же период тестирования, оценка равна f × N / s.
IEEE 24. Охват теста = [ [Число реализованных требований] / [Число требований] ] × [ [Число протестированных программных примитивов] / [Общее число примитивов в программе] ] × 100. Это число оценивает законченность выполненного тестирования. Программные примитивы - это тестируемые методы, классы и пакеты.
IEEE 30. Среднее время наработки на отказ (MTTF - Mean-Time-to-Failure). Измеряется посредством запоминания промежутков времени между всеми парами замеченных последовательных ошибок и их усреднения. При измерении промежутков обычно используется фактическое истекшее время, а не время центрального процессора.
IEEE 36. Точность тестирования = f/N, где N - это число засеянных отказов, а f - это число засеянных ошибок, найденных во время тестирования. Этот показатель оценивает надежность процесса тестирования и представляет собой побочный продукт описанной выше метрики IEEE 22.