Рентгендік құрылымдық талдау

нейтрондардың дифракциясы арқылы зерттеу. Осыған қарай Құрылымдық талдау рентгендік құрылымдық талдау,

электроногриялық талдау және нейтроногиялық. талдау болып үш түрге бөлінеді. 

дифракциясын 1912 жылы неміс физиктері М. Лауэ, В. Фридрих, П.

Книппинг ашқан, ал теориялық түсінігін Вульф пен Брэгг берген болатын. Әдіс ретінде рентген структуралық анализді Дебай мен Шеррер жасаған.

тудырады. Кристалдағы атомдық жазықтықтардың ара қашықтығының, атомдарының саны мен электрондық құрылымының алуан

түрлі болып келуіне сәйкес заттардан шағылатын сәулелер де әр түрлі дифракциялық көрініс (рентгенограмма) береді. Рентгеногриялық талдау кристалдың ішкі құрылымын анықтауға жағдай жасайды.

кристалды айналдыру немесе тербелту тәсілі және ұнтақтық тәсіл деп үшке

ажыратылады. Лауэ тәсілі толқын ұзындығы әр түрлі (полихромат) рентген сәулесімен белгілі бір орнынан қозғалмайтын кристалдарды зерттеуге арналған. Бұл тәсілде дифракциялық көрініс (лауэграмма) бойынша кристалдардың атомдық құрылымы (элементар тор мен атомдар координаттары) зерттеледі.

Лауэ тәсілі

кристалдың ішкі құрылымына тікелей тәуелді болады. Сондықтан әр түрлі заттың

лауэграммалары еш уақытта бір-біріне ұқсамайды. Температура мен қысымның және қорытпа құрамының өзгерісі кристалдың атомдық құрылымына да әсер етеді. Осы өзгерістер лауэграммаларда байқалатындықтан, бұл тәсіл Құрылымдық талдаудың негізгі бір тәсілі болып саналады. Кристалды айналдыру не тербелту тәсіліне бір орында тұрақтамайтын қозғалмалы кристалға толқын ұзындығы тұрақты (монохромат) рентген сәулесі түсіріледі. Кристалды сәуле түсірілетін бағытқа перпендикуляр осьтен айналдырып не белгілі бір бұрышқа (0 — 90Ә аралығында) тербелту арқылы оны айналдыра қоршаған фотопленкаға дифракциялық көрініс түсіріліп алынады. Мұндағы дифракциялық таңбалар қабаттық сызықтар деп аталатын қисықтардың бойында орналасады. Қабаттық сызықтардың, ондағы дақтардың орналасу ерекшеліктерін, сондай-ақ дақтардың қарқындылығын зерттей отырып, кристалдардың элементар торының периодын, атомдық жазықтықтардың орналасу қалпын және олардың ара қашықтықтарын әрі кристалл моделін анықтауға болады.

көрініс (дебаеграмма) тудырады. Фотопленкадағы дифракциялық сызықтардың орналасу ерекшеліктерін зерттеп, кристалдағы

атомдық жазықтықтардың ара қашықтығын, элементар тордың периодын және кристалл құрылымын нақтылауға мүмкіндік бар. Бұл әдіс — ұнтақтық Құрылымдық талдау деп аталады. Мұнымен қорытпаның фазалық құрамын, заттағы ішкі кернеулердің таралуын, термиялық және химиялық өңдеу процестері кезіндегі өзгерістерді (мысалы, алтын-мыс жүйелі қорытпада байқалатын атомдардың реттеле орналасуы) анықтауға болады. Рентгендік құрылымдық талдау тәсілдері соңғы кезде сұйықтар мен газдардың ішкі құрылысын зерттеу мақсаттарында да пайдаланылуда. Электрон сәулелерінің дифракциясына негізделген (қ. Де Бройль толқындары) әдіс электроногриялық талдау делінеді. Электрондардың затқа жұтылмай қарқынды шағылысатындығынан, электрондық дифракция құбылысын экранға түсіріп байқауға және лезде электронограмма алуға болады. Рентгенография қалыңд. 10–2 — 10–4 см шамасындағы зат қабаттарын зерттеуде пайдаланылса, электронография қалыңдығы 10–6 —10–7 см заттардың құрылымын зерттеуге мүмкіндік береді.

кристалдағы дифракция сәулелерінің шығуын ұсынды. Олар кез келген дифракциялық сәуледен

кристалдық жазықтықтағы бір жүйеден түскен сәуле бейнесін көруге болатынын айтты. Осы жылы Брэгг алғаш рет рентгендік дифракция әдісінің көмегімен қарапайым кристалдағы атомның құрылымын зерттеді.

максимум жағдайын анықтауға мүмкіндік береді .
Брег-Вульф шартын келесі түрде

жазуға болады:

Брег-Вульф шарты

Уильям Генри Брэгг

жарамайды. Электронография кристалдардағы жеңіл атомдардың орналасу қалпын анықтауға мүмкіндік береді. Рентгенограммадағы өте майда фазалардың

сызықтары көмескі көрінетіндіктен, оларды жоғары дәлдікпен өлшеу мүмкін емес. Ал электронография заттардың өте ұсақ бөлшектерін, металдар мен қорытпалардың беттік жұқа қабықшаларын, нитридтік фазалардың ішкі құрылымын зерттеуге кеңінен пайдаланылады. Нейтроногриялық талдау нейтрондардың тек ядр. күштермен ғана әсерлесу құбылысына негізделген.

Кристалдардың магниттік моменттері әр түрлі атомдарымен әсерлескен нейтрондар ағыны заттан

өткенде белгілі бір бұрышқа ауытқып дифракциялық көрініс (нейтроно-грамма) тудырады. Бұл әдіс элементтердің периодтық жүйесіндегі өзара көрші орналасқан атомдардың кристалдарының орналасу ерекшеліктерін анықтауға, кристалдағы жеңіл атомдардың орнын анықтауға мүмкіндік береді. Сондықтан нейтроногриялық талдау ферромагнитті, парамагнитті және антиферромагнитті заттардың электрондық құрылымын зерттеуге арналған тікелей тәсіл болып табылады.