TheSlide.ru

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Содержание

1. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ
2. Рис. 28.Схема съемки рентгенограммы поликристалла по методу Дебая — ШеррераМетод Дебая — Шеррера
3. Рис. 29. Конусы отраженных лучей, возникающие при съемке поликристалла в камереДебая — Шеррера
4. Рис. 30. а) Схема дебаеграммыБ) Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al, полученной на излучении Cu-Кα
5. Рис. 31. Фотография дебаеграммы полученной на немонохроматическом
6. Табл. 2. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и периодами решетки; квадратичные формы
7. Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма
8. Расчет периода элементарной ячейки
9. К определению периода элементарной ячейки меди методом экстраполяции y=a; k=-0.0201; a0=3.6436
10. Рис.32Рис. 33. Зависимости периодов решетки Ba0.7K0.3BiO3 от температуры
11. Рис.34. Зависимости периодов a, b, c элементарной
12. Рис.36. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ от содержания лантана
13. Рис. 38.Температурная зависимость периода с элементарной ячейки
14. Рис. 39. Принципиальная схема рентгеновского дифрактометра, сконструированная
15. Рис. 40. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6ГУР-9;
16. Рис. 41.Схема регистрации, сконструированная по принципу вертикальной θ - θ геометрии Брэгга – Брентано
17. Рис. 42. Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA
18. Рис. 43. Дифракционная картина, полученная на ARL X’TRA
19. Качественный фазовый анализТабл. 4. Пример карточки из картотеки ASTM
20. Табл. 5. Пример карточки из базы PDWin mdbКачественный фазовый анализ
21. Поиск стандартов Рис.46. Ввод результатов расчета межплоскостных расстояний и интенсивностей отражений
22. Рис.47. Выбор подбазы стандартов
23. Рис.48.Результат поиска по числу сильных линий образца, совпадающих с линиями стандартов
24. Рис.49. Результат поиска
25. Рис. 50. Критерии сравнения рентгенограмм по всем линиям образца
26. Рис. 51-1. Результаты сравнения рентгенограмм: список фаз
27. Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:таблица сравнения межплоскостных расстояний
28. Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой одного из стандартов: 21-1272, анатаз
29. Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм образца и модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.
30. Элементарные ячейкиПроекции на плоскость bcПолиморфные модификации оксида титана
31. Рис.54. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2
32. Скачать презентанцию

Рис. 28.Схема съемки рентгенограммы поликристалла по методу Дебая — ШеррераМетод Дебая — Шеррера

Главная
Разное
ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1 ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ

ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ

Слайд 2Рис. 28.Схема съемки рентгенограммы поликристалла
по методу Дебая — Шеррера
Метод

Дебая — Шеррера

Рис. 28.Схема съемки рентгенограммы поликристалла по методу Дебая — ШеррераМетод Дебая — Шеррера

Слайд 3Рис. 29. Конусы отраженных лучей, возникающие при съемке поликристалла в

камереДебая — Шеррера

Рис. 29. Конусы отраженных лучей, возникающие при съемке поликристалла в камереДебая — Шеррера

Слайд 4

Рис. 30. а) Схема дебаеграммы
Б) Фотография дебаеграммы

сплава Fe-Al, полученной на излучении Cu-Кα

Рис. 30. а) Схема дебаеграммыБ) Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al, полученной на излучении Cu-Кα

Слайд 5Рис. 31. Фотография дебаеграммы полученной на
немонохроматическом излучении
Расчет дебаеграмм, полученных

фотометодом
Табл. 1. Ошибка в определении межплоскостных расстояний
при различных

значениях угла скольжения (∆θ =3’)

∆dhkl /dhkl= ⎪ctgθΔθ ⎪

Рис. 31. Фотография дебаеграммы полученной на немонохроматическом излученииРасчет дебаеграмм, полученных фотометодом Табл. 1. Ошибка в определении межплоскостных

Слайд 6Табл. 2. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и

периодами решетки; квадратичные формы

Табл. 2. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и периодами решетки; квадратичные формы

Слайд 7Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма квадратов h2+ k2+l2

и
отношение (Qт) квадратов синусов брэгговских углов всех отражений
к

квадрату синуса брэгговского угла первого отражения для простой,
объемноцентрированной, гранецентрированной и алмазной кубических решеток.

Индицирование рентгенограмм поликристаллов

Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма квадратов h2+ k2+l2 и отношение (Qт) квадратов синусов брэгговских углов

Слайд 8Расчет периода элементарной ячейки

Расчет периода элементарной ячейки

Слайд 9К определению периода элементарной ячейки меди методом экстраполяции

y=a; k=-0.0201;

a0=3.6436

К определению периода элементарной ячейки меди методом экстраполяции y=a; k=-0.0201; a0=3.6436

Слайд 10Рис.32
Рис. 33. Зависимости периодов решетки Ba0.7K0.3BiO3 от температуры

Рис.32Рис. 33. Зависимости периодов решетки Ba0.7K0.3BiO3 от температуры

Слайд 11Рис.34. Зависимости периодов a, b, c элементарной ячейки керамики YBa2Cu3

O7-δ от температуры
Рис.35. Элементарные ячейки ромбической (Р) и тетрагональной (Т)

фаз

Р

Т

Рис.34. Зависимости периодов a, b, c элементарной ячейки керамики YBa2Cu3 O7-δ от температурыРис.35. Элементарные ячейки ромбической (Р)

Слайд 12Рис.36. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ

от содержания лантана

Рис.36. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ от содержания лантана

Слайд 13Рис. 38.Температурная зависимость периода с элементарной ячейки кристалла тетраметиламмониума тетрахлорцинката

[N(CH3)4]2ZnCl4: ⋅ - экспериментальные точки; ⎯ аппроксимация; - - -

зависимость коэффициента теплового расширения αс от температуры: αс=∆c/(c∆T

Рис. 38.Температурная зависимость периода с элементарной ячейки кристалла тетраметиламмониума тетрахлорцинката [N(CH3)4]2ZnCl4: ⋅ - экспериментальные точки; ⎯ аппроксимация;

Слайд 14Рис. 39. Принципиальная схема рентгеновского дифрактометра, сконструированная по принципу горизонтальной

θ - 2θ геометрии
Брэгга – Брентано
Рентгеновская дифрактометрия

Рис. 39. Принципиальная схема рентгеновского дифрактометра, сконструированная по принципу горизонтальной θ - 2θ геометрии Брэгга – Брентано

Слайд 15Рис. 40. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6
ГУР-9;

Рис. 40. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6ГУР-9;

Слайд 16Рис. 41.Схема регистрации, сконструированная по принципу вертикальной
θ - θ

геометрии Брэгга – Брентано

Рис. 41.Схема регистрации, сконструированная по принципу вертикальной θ - θ геометрии Брэгга – Брентано

Слайд 17
Рис. 42. Рентгеновский
дифрактометр
ARL X’TRA

Рис. 42. Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA

Слайд 18Рис. 43. Дифракционная картина, полученная на ARL X’TRA

Рис. 43. Дифракционная картина, полученная на ARL X’TRA

Слайд 19Качественный фазовый анализ
Табл. 4. Пример карточки из картотеки ASTM

Качественный фазовый анализТабл. 4. Пример карточки из картотеки ASTM

Слайд 20Табл. 5. Пример карточки из базы PDWin mdb
Качественный фазовый анализ

Табл. 5. Пример карточки из базы PDWin mdbКачественный фазовый анализ

Слайд 21Поиск стандартов

Рис.46. Ввод результатов расчета межплоскостных расстояний и интенсивностей

отражений

Поиск стандартов Рис.46. Ввод результатов расчета межплоскостных расстояний и интенсивностей отражений

Слайд 22Рис.47. Выбор подбазы стандартов

Рис.47. Выбор подбазы стандартов

Слайд 23Рис.48.
Результат поиска по числу сильных линий образца, совпадающих
с линиями

стандартов

Рис.48.Результат поиска по числу сильных линий образца, совпадающих с линиями стандартов

Слайд 24Рис.49. Результат поиска

Рис.49. Результат поиска

Слайд 25Рис. 50. Критерии сравнения рентгенограмм по всем линиям образца

Рис. 50. Критерии сравнения рентгенограмм по всем линиям образца

Слайд 26Рис. 51-1. Результаты сравнения рентгенограмм: список фаз

Рис. 51-1. Результаты сравнения рентгенограмм: список фаз

Слайд 27Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:
таблица сравнения межплоскостных расстояний

Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:таблица сравнения межплоскостных расстояний

Слайд 28Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой
одного из стандартов:

21-1272, анатаз

Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой одного из стандартов: 21-1272, анатаз

Слайд 29Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм
образца и

модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.

Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм образца и модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.

Слайд 30Элементарные ячейки
Проекции на плоскость bc
Полиморфные модификации оксида титана

Элементарные ячейкиПроекции на плоскость bcПолиморфные модификации оксида титана

Слайд 31Рис.54. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2

Рис.54. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2

Скачать презентацию

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать доклад-презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть

Что такое TheSlide.ru?

Это сайт презентации, докладов, проектов в PowerPoint. Здесь удобно хранить и делиться своими презентациями с другими пользователями.

Для правообладателей