Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Контроль формы оптических поверхностей пробным стеклом, на интерферометре Физо и на неравноплечем лазерном интерферометре.
Содержание
- 1. Контроль формы оптических поверхностей пробным стеклом, на интерферометре Физо и на неравноплечем лазерном интерферометре.
- 2. Темы лекцииКонтроль формы оптических поверхностей пробным стеклом, на интерферометре Физо и на неравноплечем лазерном интерферометре.
- 3. Зачем нужно контролировать форму поверхности?Для минимизации искажений изображения
- 4. Виды ошибокОбщая ошибка – отклонение диаметра всей
- 5. Пробное стекло1 полоса (кольцо) – отклонение в λ/2 (0,55 мкм / 2 = 0,28 мкм)
- 6. Слайд 6
- 7. Непосредственное измерение местных ошибок плоских деталейПрофилометрЧувствительный датчик
- 8. Слайд 8
- 9. Слайд 9
- 10. Интерферометр Физо
- 11. Слайд 11
- 12. Неравноплечий лазерный интерферометр
- 13. Слайд 13
- 14. Интерферометр с рассеивающей пластиной
- 15. Скачать презентанцию
Темы лекцииКонтроль формы оптических поверхностей пробным стеклом, на интерферометре Физо и на неравноплечем лазерном интерферометре.
Слайды и текст этой презентации
Слайд 2Темы лекции
Контроль формы оптических поверхностей пробным стеклом, на интерферометре Физо
и на неравноплечем лазерном интерферометре.
Слайд 4Виды ошибок
Общая ошибка – отклонение диаметра всей поверхности от заданного
Местная
ошибка – отклонение части поверхности
Измеряется в количестве интерференционных колец (λ/4)
Слайд 7Непосредственное измерение местных ошибок плоских деталей
Профилометр
Чувствительный датчик с головкой, касающейся
поверхности детали
Применяется для оценки шероховатости, а также оценки искривления плоской
поверхностиШироко применяется для оценки поверхности кремниевых пластин в микроэлектронике
