Рентгеноструктурный анализ Рентгенографический анализ – это совокупность

которых используется рентгеновское излучение, представляющее собой ту часть электромагнитного спектра,

которая заключена между относительно низкоэнергетичным ультрафиолетовым излучением и
высокоэнергетичным гамма-излучением. Соответствующие длины волн этого излучения заключены примерно в пределах от 0,001 до 10 нм, т. е. на несколько порядков короче видимых лучей

вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей

на трехмерной кристаллической решётке.

методом; в его основе лежит взаимодействие рентгеновского излучения с электронами

вещества, в результате которого возникает дифракция рентгеновских лучей. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта.

глубоких слоев земной мантии.

немецкими физиками М. Лауэ, В. Фридрихом и П. Книппингом.

на помещенной за кристаллом фотопластинке дифракционную картину, которая состояла из

большого числа закономерно расположенных пятен. Каждое пятно — след дифракционного луча, рассеянного кристаллом.Рентгенограмма, полученная таким методом, носит название лауэграммы

длину волны l излучения, параметры элементарной ячейки кристалла а, b,

с, углы падающего (a0, b0, g0) и дифракционного (a, b, g) лучей соотношениями:

a (cosa— cosa0) = hl,
b (cosb — cosb0) = kl, (1)
c (cosg — cosg0) =ll,

где h, k, I — целые числа (миллеровские индексы). Для возникновения дифракционного луча необходимо выполнение приведённых условий Лауэ [уравнений (1)], которые требуют, чтобы в параллельных лучах разность хода между лучами, рассеянными атомами, отвечающими соседним узлам решётки, были равны целому числу длин волн.

Брэгг и русский учёный Г. В. Вульф предложили более наглядную

трактовку возникновения дифракционных лучей в кристалле.


Условие Брэгга — Вульфа - условие, определяющее положение интерференционных максимумов рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом без изменения длины волны.

лучей от системы параллельных кристаллографических плоскостей, когда лучи, отражённые разными

плоскостями этой системы, имеют разность хода, равную целому числу длин волн. Б. — В. у. можно записать в следующем виде:

2dsinJ = ml,

где d — межплоскостное расстояние, J — угол скольжения, т. е. угол между отражающей плоскостью и падающим лучом, l — длина волны рентгеновского излучения и m — так называемый, порядок отражения, т. е. положительное целое число.

не только установить положение, но и измерить интенсивности как можно

большего числа дифракционных отражений, которые могут быть получены от кристалла при данной длине волны излучения и всех возможных ориентациях образца. Для этого дифракционную картину регистрируют на фотоплёнке в рентгеновском гониометре

направление дифрагированного на исследуемом образце рентгеновского излучения и положение образца

в момент возникновения дифракции.

ходовой винт обеспечивают синхронное движение исследуемого образца (О) и цилиндрич.

кассеты (К) с рентг. плёнкой.

дифракции рентгеновских лучей (метод поликристалла). Назван по имени П. Дебая

и немецкого физика П. Шеррера, предложивших этот метод в 1916. Узкий параллельный пучок монохроматических рентгеновских лучей, падая на поликристаллический образец и отражаясь от кристалликов, из которых он состоит, даёт ряд коаксиальных, т. е. имеющих одну общую ось, дифракционных конусов (рис. 1). Осью конусов служит направление первичного пучка рентгеновских лучей.

— падающее на кристалл монохроматическое рентгеновское излучение; 3 — дифрагирующие

лучи; 4ϑ и 4ϑ' — углы раствора дифракционных конусов.

атомов разного сорта, кроме обычных отражений 110, 200, 211. 220,

310, присущих твёрдому раствору с объёмноцентрированной кубической решёткой, появляются более слабые дополнительные сверхструктурные отражения 100, 111, 210, 300, 221. Нарушение порядка приводит к ослаблению интенсивности сверхструктурных линий.

задач; например, он позволяет исследовать структурные изменения, возникающие при различных

обработках металлов и сплавов. В случае исследования пластически деформированных кристаллов этот метод позволяет определять наличие текстуры в образце, при термообработке — следить за фазовыми превращениями; Д. — Ш. м. также широко применяется в минералогии и химии для идентификации различных минералов и химических соединений

с применением
рентгенографического анализа могут решаться следующие основные задачи:
1) расшифровка кристаллической

структуры минералов – установление
типа элементарной ячейки, ее симметрии и размеров, координат атомов в
пространстве;
2) идентификация всех минеральных видов вплоть до определения
конкретной минеральной разновидности и структурной модификации; осо-
бенно возрастает роль рентгенографического анализа при диагностике вы-
сокодисперсных, недиагностируемых микроскопически фаз и тончайших
минеральных смесей и взаимных срастаний;
3) проведение количественного фазового анализа горных пород, руд и
продуктов их переработки с оценкой содержания основных или большинст-
ва компонентов состава анализируемых проб;
4) определение типа и полноты серий изоморфных твердых растворов;
5) установление типоморфных особенностей минералов определенного
генезиса – степени упорядоченности кристаллической структуры и ее де-
фектность, наличие мозаичности и микронапряжений, качественная и коли-
чественная оценка состава и содержания изоморфных примесей;
6) оценка степени дисперсности и величины кристаллов порошковых
образований;
7) изучение характера фазовых превращений, вызываемых изменением
температуры, давления и некоторых других параметров;
8) исследование некоторых аморфных образований.