Жақын өрісті оптикалық микроскопия

оптикалық микроскопия
Орындағандар:
Асқарұлы Абдулғафур

Жумадилов Бауыржан
Кулшиев Халил

Тексерген:
Калкозова Жанар Каниевна

преодолеть трудности, связанные с дифракцией света, и реализовать пространственное разрешение

на уровне 10 нм и лучше. Ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) был изобретен Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM, г. Цюрих, Швейцария) в 1982 году сразу вслед за изобретением туннельного микроскопа. В основе работы данного прибора используется явление прохождения света через субволновые диафрагмы(отверстия с диаметром много меньше длины волны падающего излучения).

нм и диафрагмы с отверстием ~ 5 нм мощность излучения

в дальней зоне составляет по порядку величин 10–10 от мощности падающего излучения. Поэтому, на первый взгляд, кажется, что использование малых отверстий для построения растровых оптических изображений исследуемых образцов практически невозможно. Однако, если поместить исследуемый объект непосредственно за отверстием в ближней зоне, то вследствие взаимодействия эванесцентных мод с образцом часть энергии электромагнитного поля переходит в излучательные моды, интенсивность которых может быть зарегистрирована оптическим фотоприемником.

с субволновым отверстием и регистрируется в виде распределения интенсивности оптического

излучения в зависимости от положения диафрагмы . Контраст на БОМ изображениях определяется процессами отражения, преломления, поглощения и рассеяния света, которые, в свою очередь, зависят от локальных оптических свойств образца

Выводы.

Ближнепольное изображение формируется при сканировании исследуемого образца диафрагмой с субволновым отверстием и регистрируется в виде распределения интенсивности оптического излучения в зависимости от положения диафрагмы