Слайд 8Источники и виды излучения для структурного анализа
Рентгеновские трубки,
Ускорители заряженных частиц.
Рентгеновская
трубка.
Слайд 10Спектр излучения от трубки.
Материал анода трубки и характеристики излучения
Слайд 13Источники и виды излучения для структурного анализа
Источники нейтронов:
1. Ядерные
реакторы.
2. 9Be(,n)12C (Ra,Po, Pu, )
Схема установок на реакторе
Физико-химического института
РАН,
Обнинск.
Слайд 22Элементы теории рассеяния.
Методы дифракционных исследований.
Метод Лауэ
Метод качания (вращения)
Метод Косселя
Метод
порошка.
Слайд 23Методы дифракционных исследований.
Метод Лауэ.
Transmission Laue camera.
const.
Примеры Лауэграмм
Слайд 24Методы дифракционных исследований.
Метод Лауэ.
Объяснение дифракционной
картины с помощью построения Эвальда.
const.
Результат съемки: фотопластина с рефлексами
от различных зоны решетки.
Результат служит для
определения Лауэ-класса кристалла и
ориентации кристалла. Измерение повторяется для других ориентаций,
пока не будет достигнута необходимая ориентация.
Слайд 25Методы дифракционных исследований.
Метод качания (вращения)
– метод Вайсемберга.
= const.
Результат
съемки: фотопластина с рефлексами
от определенного слоя обратной решетки.
Осуществляется индицирование рефлексов
и
измерение интенсивности.
Измерение повторяется для других слоев.
Слайд 26Методы дифракционных исследований.
Метод съемки обратной решетки.
– метод Бюргера.
=
const.
Результат съемки: фотопластина с рефлексами
от определенного слоя обратной решетки.
Осуществляется индицирование
рефлексов и
измерение интенсивности.
Измерение повторяется для других слоев.
Слайд 27Методы дифракционных исследований.
Монокристальный дифрактометр.
= const.
Результат съемки: таблица: I, hkl
Слайд 28Методы дифракционных исследований.
Метод порошка (Дебая).
- const.
Камера Дебая-Шеррера
Слайд 29Порошковый (поликристальный) дифрактометр.
Методы дифракционных исследований.
Принципиальная схема движения лучей.
Кювета с образцом
Рентгеновская
трубка
Детектор
Монохроматор
Слайд 30Методы дифракционных исследований.
Гониометр поликристального дифрактометра.
Слайд 31Theta-Theta CubiX PRO diffractometer
Методы дифракционных исследований.
Слайд 33Элементы теории рассеяния.
Вторичное излучение.
Движение заряда в поле
Амплитуда
вторичного
излучения
С учетом эффекта поляризации
Слайд 34Элементы теории рассеяния.
Физическая основа рентгеноструктурного анализа.
в. Рассеяние рядом центров.
a(cos
- cos)=p
Условие усиления волн:
Слайд 35Элементы теории рассеяния.
Физическая основа рентгеноструктурного анализа.
Уравнения Лауэ.
Слайд 36Элементы теории рассеяния.
Физическая основа рентгеноструктурного анализа.
Уравнение Вульфа-Бреггов.
n=
2d sin
Слайд 37Элементы теории рассеяния.
(из уравнения Вульфа-Бреггов)
(из свойств обратной решетки)
Интерференционное уравнение.
Вектор дифракции
Если вектор дифракции
направлен в узел обратной
решетки, то выполняются
условия
интерференции .
Слайд 38Элементы теории рассеяния.
Интерференционное уравнение.
При взятии обоих частей уравнения
по абсолютной величине возникает
уравнение Вульфа-Бреггов.
При скалярном умножении обоих частей уравнения
на a, b, c возникают
Уравнения Лауэ.
Слайд 39Элементы теории рассеяния.
Построение Эвальда (сфера Эвальда).
0
k/2 = S/λ
k0/2
= S0/λ