TheSlide.ru

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Содержание

1. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ
2. Краевая
3. Винтовая дислокация в кристалле:
4. в) Плоские дефекты
5. Г) Объемные дефекты: поры, включения второй фазы
6. 3. Поликристаллы Поликристалл состоит из множества реальных
7. 191318951927189719321936Дифракционные методы исследования структурного состояния материаловКристаллыбериллаAl2[Be3(Si6O18)]X-ray–электромагнитные волныe-noРентгенографияНейтронографияЭлектронография
8. Спектры тормозного излучения для разныхвеличин ускоряющего напряжения
9. Слайд 9
10. Слайд 10
11. Рис.4. Схемы возникновения характеристического рентгеновского излучения
12. Рис.5Вид рентгеновских спектров излучения для трубок с молибденовым (Mo) и медным (Cu) анодами.
13. Рис. 6. Семейство плоскостей (231)Кристаллографические плоскости. Индексы Миллера
14. Кристаллографические плоскости.Индексы МиллераРис. 7. Кристаллографические плоскости.
15. Рис. 8. Отражение падающих лучей семейством плоскостей
16. Условия Лауэ - условия возникновения дифракционного максимума
17. Схема получения лауэграммы (а); вид дифракционной картины
18. Рис. 13 Лауэграммы берилла Al2Be3Si6O18Произвольная установка (Тонкими
19. 2. Метод вращения Исследуемый образец – монокристалл,
20. Рис. 15. Рентгенограмма вращения монокристалла миоглобина
21. Рис. 16. Камера Дебая;3. Метод порошка (Дебая − Шеррера)
22. Рис. 17. Установка камеры Дебая на рентгеновском аппарате
23. Рис. 18.Схема съемки рентгенограммы по методу Дебая — Шеррера:
24. 3Рис. 19. Схема дебаеграммыРис. 20. Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al
25. Рис. 24. Фотография дебаеграммы полученной на немонохроматическом
26. Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма
27. Табл. 3. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и периодами решетки; квадратичные формы
28. Расчет периода элементарной ячейки
29. Рис.25.Рис.26.Рис.27 Зависимости периодов a, b, c элементарной
30. Рис.29. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной
31. 31
32. ARL X’TRAРентгеновский дифрактометр Рис. 21.
33. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6ГУР-9; Рис.22.
34. Рис. 23. Дифракционная картина берилла
35. Скачать презентанцию

Краевая дислокация. Экстраплоскость выделена зеленым цветом, а плоскость скольжения – синим.б) Линейные дефекты - дислокации

Главная
Разное
ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1 ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ

ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ

Слайд 2 Краевая дислокация.
Экстраплоскость
выделена

зеленым цветом,
а плоскость скольжения –
синим.
б) Линейные дефекты

- дислокации

Краевая дислокация. Экстраплоскость выделена зеленым цветом, а плоскость скольжения –

Слайд 3 Винтовая дислокация в кристалле:

Винтовая дислокация
b - вектор Бюргерса; экстраплоскость показана зеленым цветом

Винтовая дислокация в кристалле:

Слайд 4 в) Плоские дефекты

в) Плоские дефекты

Слайд 5Г) Объемные дефекты: поры,
включения второй фазы

Г) Объемные дефекты: поры, включения второй фазы

Слайд 6 3. Поликристаллы Поликристалл состоит из множества реальных мелких монокристаллов
Дальний порядок существует

только в пределах одного зерна,

представляющего собой монокристалл.

3. Поликристаллы Поликристалл состоит из множества реальных мелких монокристаллов Дальний порядок существует только в пределах одного зерна,

Слайд 7
1913
1895
1927
1897
1932
1936
Дифракционные методы исследования
структурного состояния материалов
Кристаллы
берилла
Al2[Be3(Si6O18)]
X-ray–электромагнитные волны

e-
no
Рентгенография
Нейтронография
Электронография

191318951927189719321936Дифракционные методы исследования структурного состояния материаловКристаллыбериллаAl2[Be3(Si6O18)]X-ray–электромагнитные волныe-noРентгенографияНейтронографияЭлектронография

Слайд 8Спектры тормозного
излучения для разных
величин ускоряющего
напряжения трубки
Схема рентгеновской

трубки для структурного
анализа: 1 – металлический анодный стакан;
2 -

окна из бериллия для выхода рентгеновского
излучения; 3 -термоэмиссионный катод;
4 -стеклянная колба; 5 – выводы катода, к кото-
рым подводится напряжение накала, а также вы-сокое(относительно анода) напряжение; 6 электро-статическая система фокусировки электронов;
7 - анод; 8 - патрубки для охлаждающей системы.

Рис.1

Рис.3

Рис.2

Рентгеновская трубка
серии БСВ
для структурного
анализа

Спектры тормозного излучения для разныхвеличин ускоряющего напряжения трубки Схема рентгеновской трубки для структурногоанализа: 1 – металлический анодный

Слайд 9

Слайд 10

Слайд 11Рис.4. Схемы возникновения характеристического рентгеновского излучения

Рис.4. Схемы возникновения характеристического рентгеновского излучения

Слайд 12Рис.5
Вид рентгеновских спектров излучения для трубок
с молибденовым (Mo) и

медным (Cu) анодами.

Рис.5Вид рентгеновских спектров излучения для трубок с молибденовым (Mo) и медным (Cu) анодами.

Слайд 13Рис. 6. Семейство плоскостей (231)
Кристаллографические плоскости. Индексы Миллера

Рис. 6. Семейство плоскостей (231)Кристаллографические плоскости. Индексы Миллера

Слайд 14Кристаллографические плоскости.Индексы Миллера
Рис. 7. Кристаллографические плоскости.

Кристаллографические плоскости.Индексы МиллераРис. 7. Кристаллографические плоскости.

Слайд 15Рис. 8. Отражение падающих лучей семейством плоскостей

Рис. 8. Отражение падающих лучей семейством плоскостей

Слайд 16Условия Лауэ - условия возникновения дифракционного максимума в кристаллах:
Рис. 9.

К выводу уравнения Вульфа-Брэггов
ОА+ОВ = 2dsinθ= nλ

2dhklsinθ=λ

dhkl = d/n

Условия Лауэ - условия возникновения дифракционного максимума в кристаллах:Рис. 9. К выводу уравнения Вульфа-БрэгговОА+ОВ = 2dsinθ=

Слайд 17Схема получения лауэграммы (а); вид дифракционной картины для кристалла (б):

эллипсы, проведенные через рефлексы, пересекаются в точке, соответствующей оси симметрии

4-го порядка

Существует три метода получения дифракционной картины:

1. Метод Лауэ. Исследуемый образец – монокристалл, излучение полихроматическое

Рис. 10

Рис. 11. Рентгеновская камера РКСО

Рис. 12. Кристаллографическая зона

Схема получения лауэграммы (а); вид дифракционной картины для кристалла (б): эллипсы, проведенные через рефлексы, пересекаются в точке,

Слайд 18
Рис. 13 Лауэграммы берилла Al2Be3Si6O18
Произвольная установка (Тонкими ли-
ниями показаны зональные

кривые.
Первичный пучок направлен вдоль
оси симметрии 2-го порядка

Первичный пучок направлен вдоль
оси симметрии 6-го порядка

Рис. 13 Лауэграммы берилла Al2Be3Si6O18Произвольная установка (Тонкими ли-ниями показаны зональные кривые. Первичный пучок направлен вдоль оси симметрии

Слайд 192. Метод вращения Исследуемый образец – монокристалл,
излучение монохроматическое

а)

Рис. 14. а) схема получения рентгенограммы вращения; б) рентгенограмма вращения

монокристалла фуллерита С60

б)

n

2. Метод вращения Исследуемый образец – монокристалл, излучение монохроматическое а) Рис. 14. а) схема получения рентгенограммы вращения;

Слайд 20Рис. 15. Рентгенограмма вращения монокристалла миоглобина

Рис. 15. Рентгенограмма вращения монокристалла миоглобина

Слайд 21Рис. 16. Камера Дебая;
3. Метод порошка (Дебая − Шеррера)

Рис. 16. Камера Дебая;3. Метод порошка (Дебая − Шеррера)

Слайд 22Рис. 17. Установка камеры Дебая на рентгеновском аппарате

Рис. 17. Установка камеры Дебая на рентгеновском аппарате

Слайд 23Рис. 18.Схема съемки рентгенограммы по методу Дебая — Шеррера:

Рис. 18.Схема съемки рентгенограммы по методу Дебая — Шеррера:

Слайд 243

Рис. 19. Схема дебаеграммы
Рис. 20. Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al

3Рис. 19. Схема дебаеграммыРис. 20. Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al

Слайд 25Рис. 24. Фотография дебаеграммы полученной на
немонохроматическом излучении
Расчет дебаеграмм, полученных

фотометодом
Табл. 1. Ошибка в определении межплоскостных расстояний
при различных

значениях угла скольжения (∆θ =3’)

∆dhkl /dhkl= ⎪-ctgθΔθ ⎪

Рис. 24. Фотография дебаеграммы полученной на немонохроматическом излученииРасчет дебаеграмм, полученных фотометодом Табл. 1. Ошибка в определении межплоскостных

Слайд 26Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма квадратов h2+ k2+l2

и
отношение (Qт) квадратов синусов брэгговских углов всех отражений
к

квадрату синуса брэгговского угла первого отражения для простой,
объемноцентрированной, гранецентрированной и алмазной кубических решеток.

Индицирование рентгенограмм поликристаллов

Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма квадратов h2+ k2+l2 и отношение (Qт) квадратов синусов брэгговских углов

Слайд 27Табл. 3. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и

периодами решетки; квадратичные формы

Табл. 3. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и периодами решетки; квадратичные формы

Слайд 28Расчет периода элементарной ячейки

Расчет периода элементарной ячейки

Слайд 29Рис.25.
Рис.26.
Рис.27 Зависимости периодов a, b, c элементарной ячейки керамики YBa2Cu3

O7-δ от температуры
Т
Р
Рис.28. Элементарные ячейки ромбической (Р) и тетрагональной (Т)

фаз

Рис.25.Рис.26.Рис.27 Зависимости периодов a, b, c элементарной ячейки керамики YBa2Cu3 O7-δ от температурыТРРис.28. Элементарные ячейки ромбической (Р)

Слайд 30Рис.29. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ

от содержания лантана
Рис.30. Зависимости периодов a, b и c элементарной

ячейки керамики YαBa2TiβCuγO7-δ от величины
х=β/(α+2+γ).

Рис.29. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ от содержания лантанаРис.30. Зависимости периодов a, b

Слайд 3131

Слайд 32
ARL X’TRA
Рентгеновский дифрактометр
Рис. 21.

ARL X’TRAРентгеновский дифрактометр Рис. 21.

Слайд 33Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6
ГУР-9;
Рис.22.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6ГУР-9; Рис.22.

Слайд 34Рис. 23. Дифракционная картина берилла

Рис. 23. Дифракционная картина берилла

Скачать презентацию

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать доклад-презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть

Что такое TheSlide.ru?

Это сайт презентации, докладов, проектов в PowerPoint. Здесь удобно хранить и делиться своими презентациями с другими пользователями.

Для правообладателей