ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин

Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования поверхности и

наноструктур»

к химическому состоянию элементов;

-возможность сканирования образца сфокусированным электронным пучком, позволяющая

получать карту распределения элементов по поверхности образца (оже-электронная микроскопия) с субмикронным разрешением;

- использование анализаторов электронов типа цилиндрического зеркала, обладающих большей чувствительностью по сравнению с другими типами анализаторов.

уровней первичным электронным пучком;
2) оже-рекомбинация (безызлучательный, jkl оже-переход);
3) эмиссия оже-электрона;
4)

регистрация энергетического спектра оже-электронов, покинувших образец.

и интенсивностью ;

- возможность фокусировки электронного пучка (до единиц микрон)

и сканирования им поверхности образца, позволяющая получать информацию о локальном элементном составе образца (оже-электронная микроскопия).

так как производная не зависит от интенсивности самого пика ;

-

подавить фон неупругорассеянных электронов, который слабо зависит от энергии в окрестности анализируемого оже-электронного пика;

- облегчить определение положения широких оже-электронных линий.

эквивалентных остовов


3. Учет взаимодействия двух дырок в конечном состоянии

или

в конечном состоянии (d-металлы)
Локализованное экситоноподобное двухдырочное состояние
Увеличение энергии взяимодействия двух

дырок F по отношению к ширине валентной зоны W

выхода оже-электронов!

вторичных и обратно рассеянных электронов.
покидающие образец оже-электроны
быстрые электроны
ионизован-ные атомы
обратно-рассеянные

первичные электроны

~1 мкм

~1 нм

глубина анализа 0,5-5 нм,
- ускоряющее напряжение 0-30 кВ,
-

разрешение по энергии 0.5%,
- чувствительность 0,3-1,5 ат.% при идентификации всех химических элементов, кроме водорода и гелия.

– энергия связи электрона (относительно уровня Ферми),
IP – потенциал

ионизации (относительно уровня вакуума)

Переход Костера-Кронига происходит если:

KEКК>0 => BE(L2)-BE(L3) > BE(M*)
Для меди:
Металл:
BE(L2)-BE(L3) = ΔBE(2p) = 19.8 эВ
BE (M*) = E(3d) =10.2 эВ ΔBE(2p) > E(3d) -> переход КK есть

Атом:
IP играет роль BЕ
IP(3d) ≈ 20 эВ ∆E < IР -> перехода КК нет
=> Для нанокластеров Cu процесс Костера-Кронига можно использовать для наблюдения перехода металл-неметалл!

Лекция 4

Применение ОЭС для исследования нанообъектов

Методика исследования перехода металл-неметалл в нанокластерах Cu на основе оже-процесса Костера-Кронига (КК)

кластеров Cu размером 2 –> 10 нм
Отношение интенсивностилиний L3

MM и L2 MM в зависимости от размера кластеров R

Cu металл (есть КК): I3/I2 ≈ 8

Cu кластер: 8 > I3/I2 > 2

Cu атом (нет КК): I3/I2 ≈ 2

Переход металл-неметалл в кластерах Cu размером ~ 2 нм

Лекция 4

Применение ОЭС для исследования нанообъектов

поверхности образца

вторичных электронах и карты распределения элементов C, S, Fe, Na,

O.

С

S

Fe

Na

O

1 мкм

во вторичных электронах и карты распределения элементов C, S, Ca,

Na, O.

1 мкм