Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ
Содержание
- 1. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ
- 2. Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:таблица сравнения межплоскостных расстояний
- 3. Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой одного из стандартов: 21-1272, анатаз
- 4. Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм образца и модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.
- 5. Элементарные ячейкиПроекции на плоскость bcПолиморфные модификации оксида титана
- 6. Рис.54. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2
- 7. МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, В ОСНОВЕ КОТОРЫХ ЛЕЖИТ
- 8. Рис. 45. Схема возникновения рентгеновской флуоресценцииРис.46. Энергетические уровни атома. Разрешенные переходы электронов на К - уровень.
- 9. Слайд 9
- 10. Rc=3.29⋅10-15ГцРис. 18. Зависимость корня из частоты вторичного
- 11. Слайд 11
- 12. EXAFS (ТСРП) – АНАЛИЗ ТОНКОЙ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОВСКОГО
- 13. Спектры элементов, входящих в состав исследуемого вещества
- 14. Скачать презентанцию
Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:таблица сравнения межплоскостных расстояний
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1 ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ
ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ
Слайд 3Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой
одного из стандартов:
21-1272, анатаз
Слайд 4Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм
образца и
модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.
Слайд 7МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, В ОСНОВЕ КОТОРЫХ ЛЕЖИТ ЯВЛЕНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ
I = Ioexp(−μmρt),
где μm – массовый коэффициент ослабления лучей, равный
сумме коэффициентов истинного поглощения (τm) и рассеяния (σm):μm = τm + σm.
Рис.43.
Зависимость коэффициента истинного поглощения платины от длины волны падающего излучения
Рис. 42.
Рис. 44.
Зависимость атомного коэффициента поглощения ta от атомного номера элемента Z для длины волны l =1 Å
Слайд 8Рис. 45. Схема возникновения рентгеновской флуоресценции
Рис.46. Энергетические уровни атома. Разрешенные
переходы электронов на К - уровень.
Слайд 10
Rc=3.29⋅10-15Гц
Рис. 18. Зависимость корня из частоты
вторичного излучения от атомного
номера элемента
Закон Мозли 1913 г.
Генри Гвин-Джефрис Мозли (1887-1915 ), Английский
физик, Источник: http://www.calend.ru/person/3467/ © Calend.ru
Слайд 12EXAFS (ТСРП) – АНАЛИЗ ТОНКОЙ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОВСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ
EXAFS ( Extended
X-ray Absorption Fine Structure ) спектром называют медленные, с небольшой
амплитудой осцилляции коэффициенты поглощения, наблюдающиеся при значениях энергии 50 – 1000 эВ, выше порога поглощения.Рис. 48.Схематическое изображение появления спектра EXAFS
Слайд 13Спектры элементов, входящих в состав исследуемого вещества не перекрываются, даже
если эти элементы являются соседними в
периодической системе
а) Исходный экспериментальный спектр EXAFS μ (k) K-края поглощения железа.
б) Расчетная гладкая кривая μo(k).
в). Нормированная кривая kχ(k), полученная с применением функции Ханнинга к 10% начальных и конечных экспериментальных данных.
г) Фурье-образ ϕ(r) кривой kχ(k)
.
