Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Нанотехнологии
Содержание
- 1. Нанотехнологии
- 2. Лекции: Основные понятия и определения в области
- 3. Нанотехнологии:- фундаментальные исследования и знания свойств и
- 4. Наноассемблер
- 5. Измеряя время возвращения внутренних слоёв трубки после
- 6. Оценка механических свойств углеродных нанотрубок с помощью
- 7. Микроскопия (греч. μικρός — мелкий, маленький и σκοπέω — вижу) —
- 8. Разрешающая способность - минимальное расстояние между двумя
- 9. https://www.youtube.com/watch?v=Xv7y-diwAEQ
- 10. Слайд 10
- 11. Отличия светового и электронного микроскоповСветовые лучи видимого
- 12. Световой и электронный микроскопыhttps://www.youtube.com/watch?v=X3aE8C8ABng
- 13. Инструменты нанотехнологий: просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ),
- 14. Сканирующий (растровый) электронный микроскоп(СЭМ, РЭМ) NanoEducator – учебный СЗМСканирующий зондовый микроскоп (СЗМ, атомно-силовой)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)
- 15. Слайд 15
- 16. Слайд 16
- 17. Слайд 17
- 18. Слайд 18
- 19. СЗМ – имеется три основных элемента:
- 20. Принцип работы атомно-силового СЗМ:регистрация силового взаимодействия (силы
- 21. Сканирующий туннельный микроскоп (ТЭМ) предназначен для измерения рельефа
- 22. Скачать презентанцию
Лекции: Основные понятия и определения в области нанотехнологий. Стандартизация нанообъектов и наноматериалов. История нанотехнологий.Введение (1 модуль)Практические занятия: Размерная шкала природных и синтетических объектов и материалов. Фрактальные объекты. Инструментарий нанотехнологий. Оптическая и
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1Нанотехнологии
Практика 3, 4
Инструментарий нанотехнологий. Оптическая и электронная микроскопия (ПЭМ, СЭМ,
СЗМ)
1 этаж).
Слайд 2Лекции:
Основные понятия и определения в области
нанотехнологий. Стандартизация нанообъектов
и наноматериалов.
История нанотехнологий.
Введение (1 модуль)
Практические занятия:
Размерная шкала природных
и синтетических объектов и материалов. Фрактальные объекты.Инструментарий нанотехнологий. Оптическая и электронная микроскопия (ПЭМ, СЭМ, СЗМ).
Композиционные материалы. Структура и свойства.
Слайд 3Нанотехнологии:
- фундаментальные исследования и знания свойств и особенностей поведения нанообъектов;
-
совокупность разнообразных методов, методик и технологий обработки, в том числе
промышленных, применяемых к объектам в наномасштабе;- собственно результаты – нанопродукция.
Слайд 5Измеряя время возвращения внутренних слоёв трубки после удаления манипулятора,
определили
силы динамического трения одного слоя о другой (1,5×10 –14 Н / атом)
Углеродные нанотрубки –
одномерные,
1D структуры
Слайд 6Оценка механических свойств углеродных нанотрубок с помощью СЗМ
Micrographs showing (a)
the apparatus for tensile loading of MWCNTs and (b)
the
telescoping, ‘‘sword and sheath’’ fracture behavior of the MWCNT
Слайд 7Микроскопия (греч. μικρός — мелкий, маленький и σκοπέω — вижу) — изучение объектов с
использованием микроскопа.
ОПТИЧЕСКАЯ микроскопия
ЭЛЕКТРОННАЯ микроскопия
Лучи видимого диапазона электромагнитного
спектра Система линз, которые:
управляют световым потоком,
увеличивают изображение
Коротковолновое излучение электромагнитного спектра
Электромагнитные линзы, которые:
управляет потоком электронов,
формируют изображение
Слайд 8Разрешающая способность - минимальное расстояние между двумя линиями на плоскости,
которое ещё можно различить.
От степени разрешения зависит, насколько более
мелкие детали образца можно разглядеть. 100 мкм
0,2 мкм
0,5 нм
Слайд 11Отличия светового и электронного микроскопов
Световые лучи видимого диапазона отражаются от
частиц, объектов микронного масштаба и позволяют «видеть» эти объекты.
В
то время как субмикро- и нанообъекты световые лучи огибают
Слайд 13Инструменты нанотехнологий:
просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ),
сканирующий
электронный (растровый) микроскоп (СЭМ, РЭМ),
сканирующий зондовый микроскоп
(АСМ, СТМ).1931 г.
Немецкие физики Макс Кнолл и Эрнст Руска создали электронный микроскоп, который впервые позволил исследовать частицы размером менее одного микрометра (в отличие от светового микроскопа).
1981 г.
Немецкие физики Герд Биннинг и Генрих Рорер создали сканирующий зондовый микроскоп, позволил изучать рельеф поверхности образца с точностью до ангстрема, манипулировать отдельными атомами, молекулами, выкладывая нанообъекты на подложке.
1965 г.
Чарльз Отли, Кембриджский университет, выпущен первый коммерческий CЭМ (РЭМ) позволил получать пространственные изображения на нанометровом уровне.
Слайд 14Сканирующий (растровый) электронный микроскоп
(СЭМ, РЭМ)
NanoEducator – учебный СЗМ
Сканирующий
зондовый
микроскоп
(СЗМ, атомно-силовой)
Просвечивающий
электронный микроскоп
(ПЭМ)
Слайд 19СЗМ – имеется три основных элемента:
зонд (кантилевер с
иглой),
система перемещения зонда относительно образца,
регистрирующая система
2 типа СЗМ:
атомно-силовой (АСМ)туннельный (СТМ)
Слайд 20Принцип работы атомно-силового СЗМ:
регистрация силового взаимодействия (силы Ван-дер-Ваальса) между поверхностью
образца и зондом.
Силы притяжения-отталкивания, действующие на зонд со стороны
поверхности, приводят к изгибу консоли. Изгиб консоли регистрируется с помощью лазерного луча, положение которого отлеживается фотодиодом.
0 - R0 – расстояние на котором действуют силы отталкивания;
R0 – R – силы притяжения.
Слайд 21Сканирующий туннельный микроскоп (ТЭМ) предназначен для измерения рельефа электропроводящих образцов.
Между поверхностью
образца и острием иглы
возникает электрический (туннельный) ток
