Разделы презентаций
- Разное
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Некоторые дополнительные детекторы излучения образовавшегося при взаимодействии
Содержание
- 1. Некоторые дополнительные детекторы излучения образовавшегося при взаимодействии
- 2. Детекторы в РЭМ – ориентационная микроскопия (ДОЭ, EBSD)Al2O3,
- 3. EBSD детектор HKL Nordlys F+Образец для EBSD
- 4. Описание пространственного положения элементарной ячейки: матрица направляющих
- 5. Описание пространственного положения элементарной ячейки: матрица направляющих
- 6. Описание пространственного положения элементарной ячейки: углы Эйлера
- 7. Описание пространственного положения элементарной ячейки: ориентационные соотношенияПравило
- 8. Работа системы анализа картин дифракций обратнорассеянных электронов в РЭМ(x, y, фаза)i
- 9. Карта (раз)ориентировок кристаллической решетки Проиндицировав картину
- 10. Карта (раз)ориентировокзеренная структураграницыдеформация, рекристаллизация
- 11. Изучение текстуры материалов методом ДОЭ: стереографические проекции
- 12. Изучение текстуры материалов методом ДОЭполюсные фигуры(xi, yi)
- 13. Совмещенное картирование EDS и EBSDОдновременное использование методов
- 14. Примеры совместного использования EBSD- и EDS-анализаВ каждой
- 15. Катодолюминесценция, электронно-дырочные пары и плазмоны Катодолюминесценция
- 16. Детекторы катодолюминесценцииДетектор катодолюминесценции Примеры РЭМ изображений в режиме КЛ
- 17. Скачать презентанцию
Детекторы в РЭМ – ориентационная микроскопия (ДОЭ, EBSD)Al2O3,
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1Некоторые дополнительные детекторы излучения образовавшегося при взаимодействии электронов с веществом
Слайд 3EBSD детектор HKL Nordlys F+
Образец для EBSD исследований обычно наклоняется
на угол 70° для максимизации выхода обратнорассеянных электронов
Слайд 4Описание пространственного положения элементарной ячейки: матрица направляющих косинусов
XSYSZS – система
образца XCYCZC – система кр. решетки
Слайд 5Описание пространственного положения элементарной ячейки: матрица направляющих косинусов
Направление в системе
координат кристаллической решетки rc может быть связано с направлением в
системе координат образца rs с помощью матрицы направляющих косинусов:- углы между i-й осью системы координат решетки и каждой из трех осей системы координат образца
Слайд 6Описание пространственного положения элементарной ячейки: углы Эйлера
Переход
из системы координат кристаллической решетки (x' y' z') в систему
координат образца (x' y' z') может быть описан с помощью трех последовательных поворотов:φ1 - вокруг z' : y' → y'‘ ; x' → x''
Φ - вокруг x'' : z' → z ; y'' → y'''
φ2 - вокруг z : x'' → x ; y''' → y
Слайд 7Описание пространственного положения элементарной ячейки: ориентационные соотношения
Правило записи ориентации элементарной
ячейки относительно поверхности образца
{110}
Семейство плоскостей {hkl}, нормаль которых совпадает с
ННСемейство направлений
Слайд 9Карта (раз)ориентировок кристаллической решетки
Проиндицировав картину дифракции обратнорассеяных электронов
в каждой точке растра, система EBSD-анализа сохраняет информацию в виде
трех углов Эйлера и строит карту разворотов системы координат кристаллической решетки (решеток) относительно системы координат образца.
Слайд 11Изучение текстуры материалов методом ДОЭ: стереографические проекции
Стереографические проекции
используются для представления элементов кристаллической структуры (направления, плоскости) в двумерном
пространстве
Слайд 13Совмещенное картирование EDS и EBSD
Одновременное использование методов ДОЭ и ЭД
-рентгеновского микроанализа позволяет автоматически идентифицировать фазы и осуществлять картирование (карты
распределения фаз, карты ориентации кристаллитов, рентгеновские карты распределения элементов).
Слайд 14Примеры совместного использования EBSD- и EDS-анализа
В каждой точке карты осуществляется
накопление спектра ЭДС и картины ДОЭ. На основе этих данных
фазы одинаковой структуры, но разного состава дискриминируются по составу, а фазы одинакового состава, но разной структуры – по кристаллической структуре.Ячейка феррита при ориентации атомов Fe ОЦК, группа 229, а=2,87А
Ячейка аустенита при ориентации атомов Fe ГЦК, группа 225, а=3,66А
Спектр EDS двухфазной стали, показывающий наличие железа и углерода
Карта EDS содержания железа не показывает наличие двух фаз
Карта с использованием EBSD показывает наличие фаз феррита (красный) и аустенита (синий)
Слайд 15Катодолюминесценция, электронно-дырочные пары и плазмоны
Катодолюминесценция – процесс испускания
кванта видимого света при рекомбинации электронно-дырочных пар, возникших в материале
под действием электронов пучка. Плазмоны – кванты коллективных продольных колебаний (осцилляций) свободных электронов материала («электронного газа») под действием электронов пучка.
Еp ≈ 15-25 эВ
Слайд 16Детекторы катодолюминесценции
Детектор катодолюминесценции
Примеры РЭМ изображений в режиме КЛ
